B261146:製品開発における信頼性設計と加速試験実施上のポイント | 技術セミナーの開催・書籍出版　サイエンス＆テクノロジー＜Ｓ＆Ｔ＞

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セミナーセミナー番号:B261146(加速試験)

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製品開発における信頼性設計と加速試験実施上のポイント

信頼性設計の要点と加速試験を進める上での注意点やデータの取り方・見方

受講可能な形式：【ライブ配信】 or【アーカイブ配信】のみ

日時

【ライブ配信】 2026年11月26日（木） 10:00～16:30

【アーカイブ配信】 2026年12月14日（月）まで受付(視聴期間：12/14～12/25）

受講料(税込)

各種割引特典

55,000円 S&T会員登録とE-Mail案内登録特典について

定価：本体50,000円＋税5,000円

E-Mail案内登録なら、2名同時申込みで1名分無料 1名分無料適用条件

2名で55,000円 (2名ともE-Mail案内登録必須／１名あたり定価半額27,500円)

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1名申込み：受講料 44,000円(E-Mail案内登録価格 42,020円 )
　定価：本体40,000円＋税4,000円
　E-Mail案内登録価格：本体38,200円＋税3,820円
　　※１名様でオンライン配信セミナーを受講する場合、上記特別価格になります。
　　※お申込みフォームで【テレワーク応援キャンペーン】を選択のうえお申込みください。
　　※他の割引は併用できません。

配布資料

・PDFテキスト(印刷不可・編集不可)
　※開催2日前を目安に、S＆T会員のマイページよりダウンロード可となります。
　※アーカイブ配信受講の場合は配信開始日からダウンロード可となります。

オンライン配信

本セミナーはライブ配信 or アーカイブ配信の選択受講となります。

　Zoomによるライブ配信　►受講方法・接続確認（申込み前に必ずご確認ください）

　アーカイブ配信　►受講方法・視聴環境確認（申込み前に必ずご確認ください）

備考

※講義の録画・録音・撮影はご遠慮ください。
※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。

得られる知識

・製品開発における信頼性の役割や機能設計との違いが分かる
・信頼性設計の概要と手法が分かる
・加速試験の意味と狙い、およびその目的が整理できる
・加速試験の実施上のポイントが理解できるほか

対象

・メーカーの設計技術者、信頼性技術者
・開発管理者および開発管理マネージャー
・品質保証、信頼性管理の技術者及び管理者

セミナーリクエスト

セミナー講師

D-Techパートナーズ代表　原田文明氏 (元富士ゼロックス)
【略歴など】

セミナー趣旨

　製品の設計では機能だけでなく、信頼性が求められます。近年のAIの進歩は、分野を問わず高機能の実現に大きく貢献していますが、フィジカルAIでは、さらに安全性、信頼性が求められるように設計の役割は拡大しています。斬新な機能の製品も、簡単に壊れたり、寿命が短かったり、直し難かったりでは市場から駆逐されてしまいます。
　信頼性とは、意図する環境や期間、製品が機能し続ける性質です。良品が、劣化や想定外の使い方によって機能を失うことで信頼性の問題が発生します。良品ですから検査で防ぐことは不可能で、防ぐには、信頼性を確保した設計が必要になります。
信頼性設計とは、これから起こることを予測し、必要な手当てを行い、その結果を設計だけでなく、サービスや保全にまで拡大することで、高い信頼性を得るものです。
　手法の中で、広く用いられるのが加速試験です。厳しい条件で行う加速試験は、ストレスによって機能を失うメカニズムが正確なほど、高い信頼性につながる情報を得ることができます。但し、全てのメカニズムを明らかにすることは出来ず、探索型の加速試験も行いながら。寿命やMTBFを予測します。
　このセミナーでは、信頼性設計の要点と基本的な手法である加速試験法の実施上のポイントについて、事例を交えて説明します。

セミナー講演内容

１．品質と信頼性
　1.1 企業活動と競争
　1.2 信頼性の定義と特徴
　1.3 故障の概念
　1.4 寿命と故障率、MTBF

２信頼性の設計
　2.1 信頼性は設計で決まる
　2.2 機能の設計と信頼性の設計
　2.3 信頼性設計の手順

３信頼性設計の進め方
　3.1 信頼性設計の代表的な手法
　3.2 故障のモデル化
　3.3 予測の手法

４．加速試験
　4.1 加速試験の定義と実際上の期待
　4.2 加速試験の目的（信頼性の改善、計測、検出）
　4.3 加速が成立する条件
　4.4 加速の方法（定型試験と非定型の試験）（事例）

5．加速試験の準備と実施
　5.1 寿命加速試験の狙いと進め方（故障メカニズムの探索）
　5.2 機器の加速試験の場合（直行表と予測式の利用）
　5.3 定性的な加速試験とその使い方（HALT
　5.4 故障解析のモデルと数理モデル
　5.5 代表的なモデルの活用（ストレス強度、アレニウス、累積損傷など）

6．加速試験のモデルの利用
　6.1 固有技術なしに改善は出来ない
　6.2 加速試験結果の判断で気をつけること
　6.3 試験条件を決める上での注意

7．加速試験の実際
　7.1 故障率の加速試験（事例）
　7.2 定性的な加速試験の長所と短所
　7.3 加速試験の実際と注意（事例・演習）
　7.4 加速試験の効率的な運用

8．まとめ・質疑

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セミナーセミナー番号:B261146(加速試験)

製品開発における信頼性設計と加速試験実施上のポイント

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セミナー講師

セミナー趣旨

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光半導体とそのパッケージング・封止技術
～LED,レーザ,フォトダイオード,光ICなど、光半導体の種類・原理・用途から
　封止・材料技術、ディスプレイや高速通信など先端応用に関わる開発課題まで～

環境発電・エネルギーハーベスティング技術―デバイス開発と応用展開―
～各種発電技術の仕組み・特徴、市場動向、先進的なデバイス・応用開発事例まで～

【Excelシミュレーションで学ぶ】わかりやすい統計解析入門講座
　第1講　基礎知識の準備
　第2講　確率変数と確率分布
　第3講　統計的推定