精確なデータを得るためのXPS実務体系
試料調整からスペクトル解析まで 判断に迷わないための実務の勘所
| 発刊日 | 2026年秋頃 発刊予定 |
|---|---|
| 体裁 | B5判並製本 約180頁(見込) |
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価格(税込)
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55,000円
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(送料は当社負担) アカデミー割引価格:38,500円(35,000円+税) |
|
| ISBNコード | 978-4-86428-360-1 |
| Cコード | C3058 |
発刊時期が決まり次第、当ページにてご注文を承ります。
● 標準的なXPSの制約を超える、HAXPESやAPXPSといったXPSの発展型技術の利活用
● 分析データの質・信頼性を高める、4R [繰返し・再現・復元・再構築] の理解
● 大量のデータを高速に、解釈の主観性を下げた定性的な解釈も可能にする、統計・情報学的スペクトル解析
● 曖昧に理解していた/表面的な理解のまま固定化していた知識を解きほぐす、表面分析研究会作成の一問一答集
信頼性を高める要点、測定・解析上の勘所、
大量・高度なスペクトル解析技術を繋ぐ、現場待望の包括的実務書。
概要
はじめに
第1節 XPS分析者の心得
第2節 目的に応じた表面分析手法の選定
第3節 X線光電子分光法(XPS、ESCA)の原理と基本
第4節 試料の取り扱い
第5節 分析会社へ依頼する際の留意点とポイント
第2章 XPS測定・解析の理論的基盤と精度向上のためのアプローチ
第1節 光電子分光の物理的描像とスペクトル解析における不確かさの存在
第2節 結論の不確かさを減らすための測定手法および条件の最適化
第3節 スペクトル解析の基本と留意点
第4節 XPS装置の管理運営
第5節 表面分析データの信頼性を確保するために
第6節 XPS定量分析における精確さに影響する要因の分析
第3章 XPS測定・解析技術の進展
第1節 測定技術の発展
〔1〕硬X線光電子分光法(HAXPES)
〔2〕雰囲気制御 X 線光電子分光(NAP-XPS)
第2節 High-throughputスペクトルデータ解析手法の開発と高速自動ピークフィッティング
第3節 逆アプローチによるベイズ計測の応用とスペクトル解析の高度化
第4節 スペクトル超解像解析によるX線光電子分光測定時間の短縮
第4章 聞くに聞けない表面分析法の疑問Q&A【XPS編】
著者
| ジャパン・リサーチ・ラボ | 奥村 治樹 | ||
| 日本大学 | 小川 修一 | ||
| 早稲田大学 | 中尾 愛子 | ||
| SAコンサルティング | 鈴木 峰晴 | ||
| (国研)産業技術総合研究所 | 黒河 明 | ||
| (公財)高輝度光科学研究センター | 安野 聡 | ||
| 東京大学 | 豊島 遼 | ||
| 東京科学大学 | 安藤 康伸 | ||
| 東京大学 | 片上 舜 | ||
| 名古屋大学/ SSR(株) | 原田 俊太 | ||
| (公社)日本表面真空学会 表面分析研究部会 |
書籍趣旨
本書では、専門性や目的を問わない、XPSに関わる多くの方に求められる知識の共通基盤をはじめの章に掲載する。その後、分析者、あるいは更に理解を深めようとする読者に向けて、本書を読み進めることで議論や手法を更に深めていけるような構成としている。最後の一問一答は、自分がどこまで理解できているか、曖昧な部分はないかを顧みる、思考の棚卸の機会になればよいと思う。
この実務書が、多くの方にとってXPSを活用した科学的判断の信頼性を支えるための1冊となり、測定・解析によってもたらされる恩恵を最大限に享受できる一助となれば幸いである。
目次
第1節 XPS分析者の心得
第2節 目的に応じた表面分析手法の選定
第3節 X線光電子分光法(XPS、ESCA)の原理と基本
第4節 試料の取り扱い
第5節 分析会社へ依頼する際の留意点とポイント
第2章 XPS測定・解析の理論的基盤と精度向上のためのアプローチ
第1節 光電子分光の物理的描像とスペクトル解析における不確かさの存在
1. バックグラウンドの処理
2. スペクトルのピーク形状
3. スペクトルのピークシフトの考え方
第2節 結論の不確かさを減らすための測定手法および条件の最適化
1. 測定手法
1.1 X線光電子分光法の原理
1.2 X線源
1.3 定性分析、化学状態分析
1.4 定量分析
1.5 深さ方向分析
1.6 帯電補正
1.7 材料により異なる試料調整法
2. 測定条件の最適化と再現性確保
2.1 測定条件の意義
2.2 パスエネルギーの設定と意味
2.3 エネルギーステップ幅とデータ品質
2.4 スキャン回数
おわりに
第3節 スペクトル解析の基本と留意点
1. スペクトル構成 ・スペクトル処理
1.1 実測スペクトルの主ピーク構造
1.2 スペクトルの副構造
1.3 スペクトル処理の意義
2. バックグラウンド処理の手法と比較
2.1 バックグラウンド処理の意義
2.2 Shirley法(経験的積分モデル)
2.3 Tougaard法(非弾性散乱モデル)
2.4 その他のバックグラウンド手法
2.5 バックグラウンド選択と定量精度
3. ピーク分離の理論と実践
3.1 ピーク分離の目的と意義
3.2 ピーク形状関数
3.3 ピーク分離の手順
3.4 ピーク分離結果の評価
3.5 ピーク分離の例
おわりに
第4節 XPS装置の管理運営
1. 装置管理の重要性と課題
2. 超高真空装置の構成とリスク要因
3. 設置環境とメンテナンススペースの設計
4. 装置の定期メンテナンス
5. 教育と運用ルールの標準化
5.1 利用者数とトラブル発生率の関係
5.2 装置利用のための教育体系の構築
5.3 初心者視点のマニュアル作成1)
5.4 測定条件の標準化と報告の義務化
おわりに
第5節 表面分析データの信頼性を確保するために
1. 表面分析における信頼性
2. 各々のRの信頼精度に関わる要求
3. XPS計測におけるエネルギー軸の繰り返し精度の評価
まとめ
第6節 XPS定量分析における精確さに影響する要因の分析
1. 精確さと真度及び精度の関係
2. 定量分析の測定値の精確さに影響する要因
2.1 相対感度係数を使った定量分析
2.2 基準物質を使った定量分析
2.3 定量分析校正用標準物質の現状
3. 定量分析の信号強度の精確さの検討
3.1 精確さを調べるための試料
3.2 ドットアレイ試料
3.3 ドットアレイの測定条件とスペクトルの解析方法
3.4 W4f及びSi2pの信号強度及びピーク位置の精確さ
3.5 W4f及びSi2pの信号強度の比の到達精度
3.6 信号強度のばらつきと温度変動の関係
3.7 X線照射パワーの変動による信号強度のゆらぎ
おわりに
第3章 XPS測定・解析技術の進展
第1節 測定技術の発展
〔1〕硬X線光電子分光法(HAXPES)
1. HAXPESの原理と特徴
1.1 高運動エネルギー光電子の発生と脱出深さ
1.2 深い内殻準位
1.3 HAXPESスペクトルに現れる物理現象
1.3.1 反跳効果
1.3.2 遮蔽効果
2. 放射光施設におけるHAXPES実験
2.1 HAXPESに求められる光源と分光器
2.2 放射光実験施設の具体例:SPring-8のHAXPESビームライン
3. HAXPESによる各種先端材料の応用事例
3.1 半導体デバイス
3.2 二次電池材料
3.3 有機半導体トランジスタ
3.4 燃料電池用触媒
4. 将来展望とまとめ
4.1 実用化へ向けた課題と取り組み状況
4.1.1 スペクトルデータベース構築に関する取り組み
4.1.2 定量分析の確立に向けた取り組み
4.2 次世代放射光と実験技術の進展
まとめ
〔2〕雰囲気制御 X 線光電子分光(NAP-XPS)
1. NAP-XPSの実験装置と測定原理
2. NAP-XPSを用いた触媒反応解析
おわりに
第2節 High-throughputスペクトルデータ解析手法の開発と高速自動ピークフィッティング
1. 高次元スペクトルデータの低次元化と分類:Pd(111)表面スラブモデルの例
2. 事前知識に基づいたスペクトル形状解析における従来手法の課題
3. 改良型EMアルゴリズムによる高速自動ピーク検知
3.1 混合ガウスモデル(GMM)とEMアルゴリズムの原理
3.2 ヒストグラム形式による計算アルゴリズムの最適化
3.3 バックグラウンド推定の自動化、モデルの拡張性と初期値依存性
3.4 実データ解析事例:空間分布情報の可視化と均一性評価
おわりに
第3節 逆アプローチによるベイズ計測の応用とスペクトル解析の高度化
1. XPSスペクトル解析を逆問題として捉える視点
1.1 順問題と逆問題の定式化
1.2 逆問題の非一意性と従来ピークフィッティングの限界
2. ベイズ計測によるスペクトル解析高度化の原理と具体例
2.1 点推定と分布推定の違い
2.2 ベイズ自由エネルギーとモデル選択
2.3 線形回帰モデルによるベイズ計測の具体例
2.3.1 線形回帰モデルの定式化
2.3.2 最小二乗解の導出とその性質
2.3.3 ベイズ推定への拡張
2.3.4 ベイズ自由エネルギー最適化によるモデル比較
3. XPSスペクトル分解への適用
3.1 XPSスペクトル分解モデルの定式化
3.2 ベイズ逆問題としてのXPSスペクトル解析
3.3 ベイズ自由エネルギーによるピーク数推定
4. 数値実験:人工データによる検証
4.1 確率分布の数値的取り扱いと交換モンテカルロ法
4.2 線形モデルにおける数値実験
4.2.1 人工データの生成条件
4.2.2 ベイズ自由エネルギーによる雑音分散の推定
4.2.3 パラメータ分布の推定
4.3 XPSスペクトル分解における数値実験
4.3.1 人工XPSスペクトルデータの生成条件
4.3.2 ベイズ自由エネルギーによるピーク数推定
4.3.3 ピークパラメータの事後分布推定
おわりに
第4節 スペクトル超解像解析によるX線光電子分光測定時間の短縮
1. ベイズ超解像とスペクトルデータへの展開
2. スペクトル超解像によるXPS測定時間の短縮
3. スペクトル超解像解析ソフトの開発
おわりに
第4章 聞くに聞けない表面分析法の疑問Q&A【XPS編】
Q1 表面分析はなぜ真空中で行うのですか?
Q2 光電子分光法(XPS)とオージェ電子分光法(AES)とはどのように使い分けたら良いのですか?
Q3 なぜXPSの線源はAl Kαが主流なのでしょうか?
Q4 XPSで水素とヘリウムの分析が出来ないのはなぜですか?
Q5 Agの1sや2sピークはなぜXPSで観測されないのですか?
Q6 XPSは表面敏感な手法と知られていますが、どのくらいの範囲(深さ)を測定しているのでしょうか?
Q7 電子の非弾性散乱平均自由行程(Inelastic Mean Free Path、IMFP)は実験的に測定できますか?
Q8 スペクトル全体形状がXPSでは右下がり、AESでは右上がりの形状になるのはなぜですか?
Q9 XPSの横軸の結合エネルギーは、なぜ左側の値が大きいのですか?
Q10 測定されたカウント数はなぜカウント数の平方根の誤差を持つのですか?
概要
はじめに
第1節 XPS分析者の心得
第2節 目的に応じた表面分析手法の選定
第3節 X線光電子分光法(XPS、ESCA)の原理と基本
第4節 試料の取り扱い
第5節 分析会社へ依頼する際の留意点とポイント
第2章 XPS測定・解析の理論的基盤と精度向上のためのアプローチ
第1節 光電子分光の物理的描像とスペクトル解析における不確かさの存在
第2節 結論の不確かさを減らすための測定手法および条件の最適化
第3節 スペクトル解析の基本と留意点
第4節 XPS装置の管理運営
第5節 表面分析データの信頼性を確保するために
第6節 XPS定量分析における精確さに影響する要因の分析
第3章 XPS測定・解析技術の進展
第1節 測定技術の発展
〔1〕硬X線光電子分光法(HAXPES)
〔2〕雰囲気制御 X 線光電子分光(NAP-XPS)
第2節 High-throughputスペクトルデータ解析手法の開発と高速自動ピークフィッティング
第3節 逆アプローチによるベイズ計測の応用とスペクトル解析の高度化
第4節 スペクトル超解像解析によるX線光電子分光測定時間の短縮
第4章 聞くに聞けない表面分析法の疑問Q&A【XPS編】
著者
| ジャパン・リサーチ・ラボ | 奥村 治樹 | ||
| 日本大学 | 小川 修一 | ||
| 早稲田大学 | 中尾 愛子 | ||
| SAコンサルティング | 鈴木 峰晴 | ||
| (国研)産業技術総合研究所 | 黒河 明 | ||
| (公財)高輝度光科学研究センター | 安野 聡 | ||
| 東京大学 | 豊島 遼 | ||
| 東京科学大学 | 安藤 康伸 | ||
| 東京大学 | 片上 舜 | ||
| 名古屋大学/ SSR(株) | 原田 俊太 | ||
| (公社)日本表面真空学会 表面分析研究部会 |
書籍趣旨
本書では、専門性や目的を問わない、XPSに関わる多くの方に求められる知識の共通基盤をはじめの章に掲載する。その後、分析者、あるいは更に理解を深めようとする読者に向けて、本書を読み進めることで議論や手法を更に深めていけるような構成としている。最後の一問一答は、自分がどこまで理解できているか、曖昧な部分はないかを顧みる、思考の棚卸の機会になればよいと思う。
この実務書が、多くの方にとってXPSを活用した科学的判断の信頼性を支えるための1冊となり、測定・解析によってもたらされる恩恵を最大限に享受できる一助となれば幸いである。
目次
第1節 XPS分析者の心得
第2節 目的に応じた表面分析手法の選定
第3節 X線光電子分光法(XPS、ESCA)の原理と基本
第4節 試料の取り扱い
第5節 分析会社へ依頼する際の留意点とポイント
第2章 XPS測定・解析の理論的基盤と精度向上のためのアプローチ
第1節 光電子分光の物理的描像とスペクトル解析における不確かさの存在
1. バックグラウンドの処理
2. スペクトルのピーク形状
3. スペクトルのピークシフトの考え方
第2節 結論の不確かさを減らすための測定手法および条件の最適化
1. 測定手法
1.1 X線光電子分光法の原理
1.2 X線源
1.3 定性分析、化学状態分析
1.4 定量分析
1.5 深さ方向分析
1.6 帯電補正
1.7 材料により異なる試料調整法
2. 測定条件の最適化と再現性確保
2.1 測定条件の意義
2.2 パスエネルギーの設定と意味
2.3 エネルギーステップ幅とデータ品質
2.4 スキャン回数
おわりに
第3節 スペクトル解析の基本と留意点
1. スペクトル構成 ・スペクトル処理
1.1 実測スペクトルの主ピーク構造
1.2 スペクトルの副構造
1.3 スペクトル処理の意義
2. バックグラウンド処理の手法と比較
2.1 バックグラウンド処理の意義
2.2 Shirley法(経験的積分モデル)
2.3 Tougaard法(非弾性散乱モデル)
2.4 その他のバックグラウンド手法
2.5 バックグラウンド選択と定量精度
3. ピーク分離の理論と実践
3.1 ピーク分離の目的と意義
3.2 ピーク形状関数
3.3 ピーク分離の手順
3.4 ピーク分離結果の評価
3.5 ピーク分離の例
おわりに
第4節 XPS装置の管理運営
1. 装置管理の重要性と課題
2. 超高真空装置の構成とリスク要因
3. 設置環境とメンテナンススペースの設計
4. 装置の定期メンテナンス
5. 教育と運用ルールの標準化
5.1 利用者数とトラブル発生率の関係
5.2 装置利用のための教育体系の構築
5.3 初心者視点のマニュアル作成1)
5.4 測定条件の標準化と報告の義務化
おわりに
第5節 表面分析データの信頼性を確保するために
1. 表面分析における信頼性
2. 各々のRの信頼精度に関わる要求
3. XPS計測におけるエネルギー軸の繰り返し精度の評価
まとめ
第6節 XPS定量分析における精確さに影響する要因の分析
1. 精確さと真度及び精度の関係
2. 定量分析の測定値の精確さに影響する要因
2.1 相対感度係数を使った定量分析
2.2 基準物質を使った定量分析
2.3 定量分析校正用標準物質の現状
3. 定量分析の信号強度の精確さの検討
3.1 精確さを調べるための試料
3.2 ドットアレイ試料
3.3 ドットアレイの測定条件とスペクトルの解析方法
3.4 W4f及びSi2pの信号強度及びピーク位置の精確さ
3.5 W4f及びSi2pの信号強度の比の到達精度
3.6 信号強度のばらつきと温度変動の関係
3.7 X線照射パワーの変動による信号強度のゆらぎ
おわりに
第3章 XPS測定・解析技術の進展
第1節 測定技術の発展
〔1〕硬X線光電子分光法(HAXPES)
1. HAXPESの原理と特徴
1.1 高運動エネルギー光電子の発生と脱出深さ
1.2 深い内殻準位
1.3 HAXPESスペクトルに現れる物理現象
1.3.1 反跳効果
1.3.2 遮蔽効果
2. 放射光施設におけるHAXPES実験
2.1 HAXPESに求められる光源と分光器
2.2 放射光実験施設の具体例:SPring-8のHAXPESビームライン
3. HAXPESによる各種先端材料の応用事例
3.1 半導体デバイス
3.2 二次電池材料
3.3 有機半導体トランジスタ
3.4 燃料電池用触媒
4. 将来展望とまとめ
4.1 実用化へ向けた課題と取り組み状況
4.1.1 スペクトルデータベース構築に関する取り組み
4.1.2 定量分析の確立に向けた取り組み
4.2 次世代放射光と実験技術の進展
まとめ
〔2〕雰囲気制御 X 線光電子分光(NAP-XPS)
1. NAP-XPSの実験装置と測定原理
2. NAP-XPSを用いた触媒反応解析
おわりに
第2節 High-throughputスペクトルデータ解析手法の開発と高速自動ピークフィッティング
1. 高次元スペクトルデータの低次元化と分類:Pd(111)表面スラブモデルの例
2. 事前知識に基づいたスペクトル形状解析における従来手法の課題
3. 改良型EMアルゴリズムによる高速自動ピーク検知
3.1 混合ガウスモデル(GMM)とEMアルゴリズムの原理
3.2 ヒストグラム形式による計算アルゴリズムの最適化
3.3 バックグラウンド推定の自動化、モデルの拡張性と初期値依存性
3.4 実データ解析事例:空間分布情報の可視化と均一性評価
おわりに
第3節 逆アプローチによるベイズ計測の応用とスペクトル解析の高度化
1. XPSスペクトル解析を逆問題として捉える視点
1.1 順問題と逆問題の定式化
1.2 逆問題の非一意性と従来ピークフィッティングの限界
2. ベイズ計測によるスペクトル解析高度化の原理と具体例
2.1 点推定と分布推定の違い
2.2 ベイズ自由エネルギーとモデル選択
2.3 線形回帰モデルによるベイズ計測の具体例
2.3.1 線形回帰モデルの定式化
2.3.2 最小二乗解の導出とその性質
2.3.3 ベイズ推定への拡張
2.3.4 ベイズ自由エネルギー最適化によるモデル比較
3. XPSスペクトル分解への適用
3.1 XPSスペクトル分解モデルの定式化
3.2 ベイズ逆問題としてのXPSスペクトル解析
3.3 ベイズ自由エネルギーによるピーク数推定
4. 数値実験:人工データによる検証
4.1 確率分布の数値的取り扱いと交換モンテカルロ法
4.2 線形モデルにおける数値実験
4.2.1 人工データの生成条件
4.2.2 ベイズ自由エネルギーによる雑音分散の推定
4.2.3 パラメータ分布の推定
4.3 XPSスペクトル分解における数値実験
4.3.1 人工XPSスペクトルデータの生成条件
4.3.2 ベイズ自由エネルギーによるピーク数推定
4.3.3 ピークパラメータの事後分布推定
おわりに
第4節 スペクトル超解像解析によるX線光電子分光測定時間の短縮
1. ベイズ超解像とスペクトルデータへの展開
2. スペクトル超解像によるXPS測定時間の短縮
3. スペクトル超解像解析ソフトの開発
おわりに
第4章 聞くに聞けない表面分析法の疑問Q&A【XPS編】
Q1 表面分析はなぜ真空中で行うのですか?
Q2 光電子分光法(XPS)とオージェ電子分光法(AES)とはどのように使い分けたら良いのですか?
Q3 なぜXPSの線源はAl Kαが主流なのでしょうか?
Q4 XPSで水素とヘリウムの分析が出来ないのはなぜですか?
Q5 Agの1sや2sピークはなぜXPSで観測されないのですか?
Q6 XPSは表面敏感な手法と知られていますが、どのくらいの範囲(深さ)を測定しているのでしょうか?
Q7 電子の非弾性散乱平均自由行程(Inelastic Mean Free Path、IMFP)は実験的に測定できますか?
Q8 スペクトル全体形状がXPSでは右下がり、AESでは右上がりの形状になるのはなぜですか?
Q9 XPSの横軸の結合エネルギーは、なぜ左側の値が大きいのですか?
Q10 測定されたカウント数はなぜカウント数の平方根の誤差を持つのですか?
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第3講 粒子分散液の分散安定化と高分子分散剤選択および分散安定性試験法
第3期受講(2026年9月25日開講)≪解説動画で学ぶeラーニング講座≫分析技術による異物問題への対処法とノウハウ NEW
第1回:異物問題の現状および検出・サンプリング方法のノウハウ
第2回:異物分析~FT-IR分析とその他分析法の組み合わせ~
第3回:迅速な原因解明のために、今からできる事
≪解説動画9時間で学ぶeラーニング講座≫Excelを使った乾燥技術の評価実例とトラブル対策-乾燥技術のすべて。- NEW
≪解説動画で学ぶeラーニング講座≫
第1講 乾燥の基礎
第2講 乾燥機の選定
第3講 乾燥機の設計
第1期受講(2026年3月24日開講)≪解説動画で学ぶeラーニング講座≫分析技術による異物問題への対処法とノウハウ
第1回:異物問題の現状および検出・サンプリング方法のノウハウ
第2回:異物分析~FT-IR分析とその他分析法の組み合わせ~
第3回:迅速な原因解明のために、今からできる事
≪解説動画9時間で学ぶeラーニング講座≫Excelを使った乾燥技術の評価実例とトラブル対策-乾燥技術のすべて。-
≪解説動画で学ぶeラーニング講座≫
第1講 乾燥の基礎
第2講 乾燥機の選定
第3講 乾燥機の設計
【Excelシミュレーションで学ぶ】わかりやすい統計解析入門講座
第1講 基礎知識の準備
第2講 確率変数と確率分布
第3講 統計的推定
においの数値化・評価手法と臭気対策
受講可能な形式:【ライブ配信(見逃し配信付)】のみ
拡散接合の基礎・最新技術動向と接合部評価の実際
受講可能な形式:【会場受講】
溶解度パラメータ(SP値・HSP値)の基礎と応用技術最前線 2ヵ月連続セミナー
受講可能な形式:【ライブ配信】or【アーカイブ配信】のみ
溶解度パラメータ(HSP値)の機能性材料開発への応用ノウハウ最前線
受講可能な形式:【ライブ配信】or【アーカイブ配信】のみ
<剥離・密着性の改善や問題解決に役立つ>薄膜測定・評価技術のポイント
受講可能な形式:【ライブ配信】のみ
【オンデマンド配信】熱硬化性樹脂複合材料(GFRP・CFRP)のリサイクル技術の現状および最新動向と課題
【 2 名 同 時 申 込 で 1 名 無 料 】 対 象 セ ミ ナ ー
シランカップリング剤の反応メカニズム解析、界面(層)形成・表面の反応状態の分析・評価方法
受講可能な形式:【ライブ配信】or【アーカイブ配信】のみ
リソグラフィ技術・レジスト材料の基礎と微細化・高解像度に向けた先端技術、今後の展望
受講可能な形式:【ライブ配信】or【アーカイブ配信】のみ
粘着・剥離現象の基礎と可視化実験・モデリング
受講可能な形式:【ライブ配信(見逃し配信付)】のみ
精密部品の接着剤組立における接着技術の基礎と光通信用部品組立への応用
受講可能な形式:【ライブ配信】のみ
実験計画法 入門講座Excelで学ぶ分散分析と効率的な実験設計
受講可能な形式:【ライブ配信】のみ
エアロゾルデポジション法の成膜原理とプロセス制御指針・応用展開
受講可能な形式:【ライブ配信(見逃し配信付)】のみ
ゴム・プラスチック材料の破損、破壊原因とその解析法
受講可能な形式:【会場受講】のみ
現場で役立つXPS(X線光電子分光法、ESCA)分析
受講可能な形式:【ライブ配信】or【アーカイブ配信】のみ
バイオフィルム対策の基本と最新研究動向 NEW
受講可能な形式:【ライブ配信】or【アーカイブ配信】のみ
ぬれ性評価の入門講座
受講可能な形式:【ライブ配信】or【アーカイブ配信】のみ
インクジェット技術総論
受講可能な形式:【ライブ配信(アーカイブ配信付)】or【アーカイブ配信】のみ
資源循環に対応する易解体技術トレンドを中心とした接着技術の研究開発動向と課題
受講可能な形式:【ライブ配信】or【アーカイブ配信】のみ
【オンデマンド配信】セラミックス焼結プロセスにおける分析・評価・解析技術
受講可能な形式:【オンデマンド配信】※会社・自宅にいながら学習可能です※
【オンデマンド配信】<DLCコーティング技術>DLC(ダイヤモンドライクカーボン)被覆およびその複合処理による金属材料の耐久性向上
【 2 名 同 時 申 込 で 1 名 無 料 】 対 象 セ ミ ナ ー
コーティングプロセスにおける界面化学とレオロジー解析
受講可能な形式:【ライブ配信】 or【アーカイブ配信】のみ
作業環境測定(有機溶剤)におけるデザイン、サンプリング、法令対応の要点
受講可能な形式:【ライブ配信(見逃し配信付)】のみ
高分子粘弾性(レオロジー)の基礎と動的粘弾性測定
受講可能な形式:【ライブ配信(見逃し配信付)】のみ
演習問題で身につける有機化学スペクトル解析 徹底トレーニング
受講可能な形式:【会場受講】or【ライブ配信】or【アーカイブ配信】
電磁界シミュレーション技術 入門
受講可能な形式:【ライブ配信】のみ
【オンデマンド配信】樹脂の硬化反応におけるレオロジー解析
受講可能な形式:【オンデマンド配信】
精密バーコーティング技術の基礎・応用
受講可能な形式:会場受講】or【ライブ配信】のみ
実務に役立つ固体NMRの基礎と測定・ノウハウ及び構造物性相関 NEW
受講可能な形式:【ライブ配信】or【アーカイブ配信】
コーティング2セミナー【8/28 精密バーコーティング】&【9/10 塗布故障】セット申込みページ
受講可能な形式:1日目・2日目【会場】or【ライブ配信】のみ
塗布故障を徹底削減する総合・体系的塗布技術
受講可能な形式:【会場受講】or【ライブ配信】のみ
高分子材料の劣化メカニズムと解析、寿命評価と対策事例
受講可能な形式:【会場受講】のみ
トライボロジーの基礎とプラスチック材料の摩擦摩耗特性向上
受講可能な形式:ライブ配信 or アーカイブ配信のみ
消泡剤の作用機構と選定・活用のポイント NEW
受講可能な形式:【ライブ配信(見逃し配信付)】のみ
粘着剤・粘着テープの粘着・剥離現象と評価・選定方法【サンプル配付による実演型講義】
受講可能な形式:【ライブ配信】のみ
【オンデマンド配信】実験・分析における超純水・ブランク水の製造と管理
【オンデマンド配信】※会社・自宅にいながら学習可能です※
【製本版 + ebook版】塗工・乾燥プロセス技術の基礎とノウハウ-Roll To Roll塗工・乾燥の開発から製造まで-
【製本版 + ebook版】ナノインプリント技術の基礎と応用最前線
ナノインプリント技術の基礎と応用最前線
リビング重合技術 高度な制御を可能にする精密重合と応用展開
リビング重合(精密重合)によるポリマー構造制御・高機能化を加速させる基礎・応用事例
【製本版 + ebook版】インクジェットインクの最適化 千態万様[進歩版]
匂い・香りの科学と評価・可視化・応用技術
~センシング技術の進展と呼気ガス分析・香り再現・演出等への展開~
第2期受講(2026年6月24日開講)≪解説動画で学ぶeラーニング講座≫分析技術による異物問題への対処法とノウハウ NEW
第1回:異物問題の現状および検出・サンプリング方法のノウハウ
第2回:異物分析~FT-IR分析とその他分析法の組み合わせ~
第3回:迅速な原因解明のために、今からできる事
溶解度パラメータ(SP値, HSP値)の基礎と分散系における相分離・付着・分散制御への応用 NEW
第1講 溶解度パラメータの基礎と求め方
第2講 高分子/粒子複合系材料の相分離性の制御と応用例
第3講 粒子分散液の分散安定化と高分子分散剤選択および分散安定性試験法
第3期受講(2026年9月25日開講)≪解説動画で学ぶeラーニング講座≫分析技術による異物問題への対処法とノウハウ NEW
第1回:異物問題の現状および検出・サンプリング方法のノウハウ
第2回:異物分析~FT-IR分析とその他分析法の組み合わせ~
第3回:迅速な原因解明のために、今からできる事
≪解説動画9時間で学ぶeラーニング講座≫Excelを使った乾燥技術の評価実例とトラブル対策-乾燥技術のすべて。- NEW
≪解説動画で学ぶeラーニング講座≫
第1講 乾燥の基礎
第2講 乾燥機の選定
第3講 乾燥機の設計
第1期受講(2026年3月24日開講)≪解説動画で学ぶeラーニング講座≫分析技術による異物問題への対処法とノウハウ
第1回:異物問題の現状および検出・サンプリング方法のノウハウ
第2回:異物分析~FT-IR分析とその他分析法の組み合わせ~
第3回:迅速な原因解明のために、今からできる事
≪解説動画9時間で学ぶeラーニング講座≫Excelを使った乾燥技術の評価実例とトラブル対策-乾燥技術のすべて。-
≪解説動画で学ぶeラーニング講座≫
第1講 乾燥の基礎
第2講 乾燥機の選定
第3講 乾燥機の設計
【Excelシミュレーションで学ぶ】わかりやすい統計解析入門講座
第1講 基礎知識の準備
第2講 確率変数と確率分布
第3講 統計的推定
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