電子機器の故障メカニズムと
未然防止・故障解析のポイント
~多くの事例とともに、実践的な未然防止法・故障解析法を解説~
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講師が、多くの技術者が抱えている故障問題をもとにまとめた講義内容ですので、電子部品・電子機器の品質に関する技術者が必要する知識や情報が網羅されています。
日時 | 2024年4月18日(木) 10:30~16:30 |
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会場 | オンライン配信セミナー |
会場地図 |
受講料(税込)
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配布資料 | PDFテキスト(印刷可・編集不可) ※開催2日前を目安に、弊社HPのマイページよりダウンロード可となります。 | |
オンライン配信 | ZoomによるLive配信 ►受講方法・接続確認(申込み前に必ずご確認ください) ■アーカイブ配信について 視聴期間:終了翌営業日から7日間[4/19~4/25中]を予定 ※動画は未編集のものになります。 ※視聴ページは、マイページにリンクを設定します。 | |
備考 | ※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。 ※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。 | |
得られる知識 | 本講演は講師が様々な技術者との議論や情報交換により、多くの人が感じている故障問題をもとにまとめたもので、電子部品、電子機器の品質に関する技術者が必要する知識や情報が網羅されている。 | |
対象 | 対象を初級者としてわかりやすく説明するが、中級以上の技術者には故障問題の現状や幅広い情報があり、有効なセミナーであると考えられる。 |
セミナー講師
【専門】故障物性(モデル、メカニズム)、半導体プロセス、信頼性評価、故障解析、材料分析
【兼務】日本信頼性学会故障物性研究会 副主査
沖電気工業にてLSIプロセス開発、LSIに係る物性研究
沖エンジニアリングにて、信頼性評価技術統括およびLSIプロセス診断(LSIの良品解析)開発、ロックイン発熱解析応用技術開発
NTTエレクトロニクスにて、故障解析受託サービス
東レリサーチセンターにて受託分析(いずれも顧客相談窓口)
現在は故障物性ソリューションとして、LSIや電子機器の信頼性・解析のセミナー・研修を実施
セミナー趣旨
以上のことから、本セミナーでは故障に関する基礎知識と実際に行われている未然防止法と故障解析を、事例を多く用いて、初級者にも理解しやすいように説明する。
セミナー講演内容
1.1 リコール情報から見る市場故障の問題
1.2 実際に発生する市場故障の真の要因
1.3 故障期による代表的な故障モードと発生要因
1.4 部品に関する故障メカニズム
1.4.1 半導体デバイスの動作原理・構造・故障メカニズム
1.4.2 実装基板の故障メカニズム
1.5 ストレスによる故障メカニズム
1.5.1 市場で受けるストレスの種類
1.5.2 温度ストレスによる劣化
1.5.3 温湿度ストレスによる劣化
1.5.4 温度急変ストレスによる劣化
1.5.5 機械的ストレスによる劣化破壊
1.5.6 過渡電流・電圧による破壊
1.6 外乱ノイズ
1.6.1 電磁波ノイズによる誤動作と未然防止
1.6.2 サージによる破壊と未然防止
1.6.3 過電圧・過電流による破壊(事例報告による)
2.未然防止
2.1 製品における信頼性の作りこみ
2.2 部品採用に関するポイント
2.2.1 部品メーカの信頼性の作り込み
2.2.2 適切な部品調達法
2.2.3 部品選定のための評価
2.2.4 良品解析事例
3.製品保証のための信頼性評価
3.1 ユーザからの要求事項
3.2 一般の信頼性試験
3.3 屋外など特殊環境試験
3.4 寿命推定
3.5 規格
4.市場故障に対する故障解析(電子機器から部品まで)
4.1 電子機器メーカが行う故障解析の目的
4.2 電子機器メーカが行う故障解析の流れ
4.3 ロックイン発熱解析を用いた故障解析
4.4 部品メーカ(半導体メーカ)が行う故障解析
4.5 解析事例
□ 質疑応答 □
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