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現場で役立つ
XPS(X線光電子分光法、ESCA)分析

-失敗を防ぐための分析設計とデータ解釈-

受講可能な形式:【ライブ配信】or【アーカイブ配信】のみ
「もっともらしいスペクトル」を得て、XPSで見えたものをそのまま信じていませんか

ピーク分離、深さ方向分析の方法選択、データ解釈、表面汚染の影響、帯電補正の考え方、定量値の取り扱い、、、
測定や解析の進め方によって結論が大きく変わるXPSを正確に行うには

XPSの基本原理を整理し、実際の現場で起こりやすい誤解釈やトラブル事例を中心に、
 表面分析をどのように設計し、データをどのように解釈するかを解説します

「失敗を防ぎ、問題解決につながるXPS分析」を行いましょう
日時 【ライブ配信】 2026年7月23日(木)  13:00~16:30
【アーカイブ配信】 2026年8月7日(金)  まで受付(視聴期間:8/7~8/21)
受講料(税込)
各種割引特典
定価:本体45,000円+税4,500円
E-Mail案内登録なら、2名同時申込みで1名分無料 1名分無料適用条件
2名で49,500円 (2名ともE-Mail案内登録必須​/1名あたり定価半額の24,750円)
2名で74,250円 (2名ともE-Mail案内登録必須​/1名あたり定価半額の24,750円)

テレワーク応援キャンペーン(1名受講)【オンライン配信セミナー受講限定】

1名申込み: 受講料 39,600円(E-Mail案内登録価格 37,840円)
 定価:本体36,000円+税3,600円
 E-Mail案内登録価格:本体34,400円+税3,440円
  ※1名様でオンライン配信セミナーを受講する場合、上記特別価格になります。
  ※お申込みフォームで【テレワーク応援キャンペーン】を選択のうえお申込みください。
  ※他の割引は併用できません。
配布資料PDFデータ(印刷可・編集不可)
※ライブ配信受講は開催2日前を目安にS&T会員のマイページよりダウンロード可となります。
※アーカイブ配信受講は配信開始日からダウンロード可となります。

 
オンライン配信ライブ配信(Zoom) ►受講方法・接続確認申込み前に必ずご確認ください
アーカイブ配信 ►受講方法・視聴環境確認申込み前に必ずご確認ください
備考※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。
得られる知識・XPS分析の基本原理と測定の考え方
・帯電、ピーク分離、定量などで起こりやすい誤解
・実務における試料取り扱いと測定条件設定の注意点
・XPSで「分かること」と「分からないこと」
・AES、TOF-SIMSなど他の表面分析手法との使い分け
・問題解決につながる分析設計の考え方
対象・XPS (ESCA) 装置を使用する技術者、研究者、開発担当者
・XPSデータの解釈や評価に不安を感じている方
・分析結果の妥当性判断を行う立場の方
・表面分析の進め方や他手法との使い分けを学びたい方
・受託分析や共同研究の結果を適切に読み解きたい方

セミナー講師

アルバック・ファイ(株) 分析技術顧問 理学博士 眞田 則明 氏
専門:表面分析
化学会社分析部門勤務、静岡大学助手を経てアルバック・ファイ社勤務
2015~現在 Journal of Surface Analysis 編集委員長

セミナー趣旨

 XPS(X線光電子分光法、ESCA)は、表面分析の中で最も広く利用されている手法の一つですが、一方で「もっともらしいスペクトル」が得られるため、一見正しく見える誤解釈が起こりやすい分析法でもあります。 近年は、複合材料、帯電防止処理材料、電池材料など、従来より複雑な実用材料が増え、「XPSで見えたものをそのまま信じる危険」が高まっています。ピーク分離、深さ方向分析の方法選択とデータ解釈、表面汚染の影響、帯電補正の考え方、定量値の取り扱いなど、測定や解析の進め方によって結論が大きく変わる場合が増加しています。また、近年は電池・半導体・有機材料・接着材料など複雑な材料系が増え、「XPSで何が分かり、何が分からないか」を適切に判断する重要性が高まっています。 分析担当者は、装置を動かすだけでなく、結果の意味と限界を判断し、開発・製造・品質保証の意思決定につなげる役割を担います。装置の自動化が進み、生成AIやデータベースにより一般知識へアクセスしやすくなった現在でも、試料状態、測定条件、スペクトルの妥当性、他手法との整合性を判断する作業は、現場の分析担当者に求められ続けています。
 本セミナーでは、XPSの基本原理を整理した上で、実際の現場で起こりやすい誤解釈やトラブル事例を中心に、表面分析をどのように設計し、データをどのように解釈するかを解説します。 他の表面分析手法との比較も交え、「失敗を防ぎ、問題解決につながるXPS分析」を適切に進めるための考え方を紹介します。

セミナー講演内容

1.表面分析とXPSの位置づけ
 ・なぜ表面分析が必要なのか
 ・XPSで見ているもの
 ・XPSで分かることと分からないこと

2.XPS測定の基本
 ・日用材料を例にXPSの基本を学ぶ
 ・XPSの測定原理
 ・スペクトルの読み方
 ・試料取り扱いと前処理
 ・測定条件の考え方

3.XPS分析で起こりやすい誤解釈と落とし穴
 ・帯電補正で化学状態を誤認するケース
 ・ピーク分離で「存在しない成分」を作ってしまうケース
 ・表面汚染を材料由来と誤認するケース
 ・深さ方向分析で「組成変化」を誤認するケース
 ・触媒の事例:定量値と化学状態をどのように信用するのか

4.実務での分析設計
 ・何を知りたいのかを整理する
 ・どの分析法を選ぶべきか
 ・XPSだけで判断してはいけないケース
 ・AES、TOF-SIMSとの使い分け
 ・分析依頼で失敗しないために

5.事例紹介
 ・電池材料
 ・配線材料
 ・有機材料・接着材料

6.よくある質問
 ・測定できる試料とその形状
 ・サンプリングの注意点
 ・定量に含めるピークと含めないサテライトピーク
 ・中和がうまくいっていない時の考え方と対処
 ・カーブフィッティングをおこなってよい場合とは
 ・分析結果を誤解なく伝えるためのデータ処理

7.まとめ
 ・「問題解決」のためのXPS分析
 ・自動化時代における分析担当者の役割

質疑応答