半導体ウェット洗浄の基礎・実践と最新洗浄技術
~パーティクル除去・再付着・パターンダメージ・帯電/ESD・乾燥不良の原因と対策~
受講可能な形式:【ライブ配信】or【アーカイブ配信】のみ
【半導体産業応援キャンペーン対象セミナー】3名以上のお申込みでさらにおトク
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微小・ナノパーティクルを高い除去率で取り除きながら、
微細パターンを壊さず、再付着、ウォーターマーク、乾燥不良、帯電・ESDを抑えるという相反する要求にどう応えるか
『高い洗浄力』と『取る・再び付けない・壊さない・きれいに乾かす』の両立を目指して
ウェット洗浄の基礎からパーティクルの付着・除去・再付着を界面、流体、機械力、静電気の観点で体系的に解説
再現性のある洗浄ウィンドウの構築
工程構成、薬液・リンス・乾燥の基礎、パーティクルの付着・残存・再付着するメカニズム、粒径・材質・表面状態の影響
薬液洗浄、二流体スプレー、メガソニック/超音波、高圧ジェット、ブラシ洗浄の特徴と使い分け
除去率向上とパターンダメージ・倒壊抑制の両立
純水・薬液・スプレー・スピン工程で生じる帯電/ESDの発生機構と、表面電位・発生電流の測定方法
次世代物理洗浄技術と国際会議動向と今後の技術トレンドも解説
| 日時 | 【ライブ配信】 2026年9月30日(水) 13:00~16:30 |
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| 【アーカイブ配信】 2026年10月21日(水) まで受付(視聴期間:10/21~11/4) |
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受講料(税込)
各種割引特典
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49,500円
S&T会員登録とE-Mail案内登録特典について
定価:本体45,000円+税4,500円
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E-Mail案内登録なら、2名同時申込みで1名分無料
1名分無料適用条件
2名で49,500円 (2名ともE-mail案内登録必須/1名あたり定価半額24,750円)
3名以上のお申込みで1名あたり:受講料 22,000円
本体20,000円+税2,000円(1名あたり) ※受講者全員のE-Mail案内登録が必須です。 ※お申込みフォームで【半導体産業応援キャンペーン】を選択のうえお申込みください。 ※本ページからのお申込みに限り適用いたします。他の割引は併用できません。
定価:本体36,000円+税3,600円 E-Mail案内登録価格:本体34,400円+税3,440円 ※1名様でオンライン配信セミナーを受講する場合、上記特別価格になります。 ※お申込みフォームで【テレワーク応援キャンペーン】を選択のうえお申込みください。 ※他の割引は併用できません。
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| 配布資料 | PDFデータ(印刷可・編集不可) ※開催2日前を目安に、S&T会員のマイページよりダウンロード可となります。 ※アーカイブ配信受講の場合は配信開始日からダウンロード可となります。 | |||
| オンライン配信 | ライブ配信(Zoom) ►受講方法・接続確認(申込み前に必ずご確認ください) アーカイブ配信 ►受講方法・視聴環境確認(申込み前に必ずご確認ください) | |||
| 備考 | ※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。 ※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。 | |||
| 得られる知識 | ・半導体ウェット洗浄の役割、工程構成、薬液・リンス・乾燥の基礎 ・パーティクルが付着・残存・再付着するメカニズムと、粒径・材質・表面状態の影響 ・DLVO理論、ゼータ電位、濡れ性などを現場の洗浄条件へ結び付ける考え方 ・薬液洗浄、二流体スプレー、メガソニック/超音波、高圧ジェット、ブラシ洗浄の特徴と使い分け ・除去率向上とパターンダメージ・倒壊抑制を両立するための実践的な条件設計 ・純水・薬液・スプレー・スピン工程で生じる帯電/ESDの発生機構と、表面電位・発生電流の測定方法 ・現場データから原因仮説を立て、再現性のある洗浄ウィンドウを構築する進め方 ・最先端洗浄技術の動向 | |||
| 対象 | ・半導体・電子デバイス、MEMS、センサ、パワーデバイス等の洗浄工程に携わるプロセス技術者・生産技術者 ・洗浄装置、薬液、機能水、超純水、ノズル、ブラシ、計測・評価機器の開発・設計・技術営業担当者 ・パーティクル残存・再付着、パターンダメージ、乾燥不良、帯電/ESD、歩留まり低下に課題を持つ品質・製造担当者 ・ウェット洗浄の基礎を実務に結び付けて学びたい若手技術者、および最新技術を整理したい研究開発・管理者 | |||
| キーワード:半導体ウェット洗浄、パーティクル除去、ナノパーティクル、再付着、物理洗浄、二流体スプレー、メガソニック/超音波、高圧ジェット、ブラシ洗浄、機能水、IPA乾燥、パターンダメージ、帯電/ESD | ||||
セミナー講師
セミナー趣旨
半導体デバイスの微細化・高集積化に伴い、ウェット洗浄には、微小・ナノパーティクルを高い除去率で取り除く一方で、微細パターンを壊さず、再付着、ウォーターマーク、乾燥不良、帯電・ESDを抑えるという相反する要求が強まっています。現場では、流量や圧力、ノズル距離、周波数、回転数、薬液濃度、処理時間などを個別に変更しても、除去率のばらつきや新たなダメージが生じ、条件設定の根拠をつかみにくいことが少なくありません。
本セミナーでは、ウェット洗浄の基礎から出発し、パーティクルの付着・除去・再付着を界面、流体、機械力、静電気の観点から体系的に解説します。薬液洗浄に加え、二流体スプレー、メガソニック/超音波、高圧ジェット、ブラシなどの物理洗浄、IPAを用いた洗浄・乾燥、オゾン水・水素水・CO?水等の機能水を取り上げます。さらに、表面電位・発生電流の計測、帯電制御、ナノパーティクルへの対応、低薬液・低環境負荷プロセスまで扱います。洗浄力を上げるだけでなく、『取る・再び付けない・壊さない・きれいに乾かす』を両立するために、どの現象を見て、どのパラメータを振り、何を測定・評価すべきかを、現場実務に結び付けて学びます。
本セミナーでは、ウェット洗浄の基礎から出発し、パーティクルの付着・除去・再付着を界面、流体、機械力、静電気の観点から体系的に解説します。薬液洗浄に加え、二流体スプレー、メガソニック/超音波、高圧ジェット、ブラシなどの物理洗浄、IPAを用いた洗浄・乾燥、オゾン水・水素水・CO?水等の機能水を取り上げます。さらに、表面電位・発生電流の計測、帯電制御、ナノパーティクルへの対応、低薬液・低環境負荷プロセスまで扱います。洗浄力を上げるだけでなく、『取る・再び付けない・壊さない・きれいに乾かす』を両立するために、どの現象を見て、どのパラメータを振り、何を測定・評価すべきかを、現場実務に結び付けて学びます。
セミナー講演内容
1.半導体洗浄における不良発生
1-1 半導体デバイス構造と微細化の進展
1-2 製造プロセスにおける洗浄の役割
1-3 なぜ洗浄不良は発生するのか
1-4 化学洗浄と物理洗浄の役割分担
1-5 先端半導体における洗浄工程の重要性
2.パーティクル付着・除去メカニズムと物理洗浄の本質
2-1 パーティクル付着理論(DLVO理論)
2-2 除去を支配する力学(流体・音響・接触)
2-3 水流を用いた洗浄原理
2-4 高圧スプレー洗浄
2-5 二流体スプレー洗浄
2-6 メガソニック洗浄
2-7 ブラシ洗浄
2-8 プロセスに応じた洗浄手法の使い分け
① 除去対象別の最適手法
② 過剰洗浄・ダメージの考え方
③ 安全・信頼性リスク
3.洗浄プロセスにおける静電気障害と歩留まり不良
3-1 洗浄工程における静電気障害の実例
3-2 スプレー時に発生する帯電メカニズム
3-3 静電気対策技術
① 炭酸水および機能水による効果
② 新たな帯電制御技術
4.次世代洗浄技術とプロセス最適化の方向性
4-1 次世代物理洗浄技術
① インクジェット洗浄
② 超臨界洗浄
③ ピンポイント洗浄
④ Solid Phase Clean洗浄
4-2 プロセス最適化の考え方
① 条件設計の指針
② 再現性確保のポイント
5.国際会議動向と今後の技術トレンド
5-1 UCPSS・SCSTの最新動向
質疑応用
1-1 半導体デバイス構造と微細化の進展
1-2 製造プロセスにおける洗浄の役割
1-3 なぜ洗浄不良は発生するのか
1-4 化学洗浄と物理洗浄の役割分担
1-5 先端半導体における洗浄工程の重要性
2.パーティクル付着・除去メカニズムと物理洗浄の本質
2-1 パーティクル付着理論(DLVO理論)
2-2 除去を支配する力学(流体・音響・接触)
2-3 水流を用いた洗浄原理
2-4 高圧スプレー洗浄
2-5 二流体スプレー洗浄
2-6 メガソニック洗浄
2-7 ブラシ洗浄
2-8 プロセスに応じた洗浄手法の使い分け
① 除去対象別の最適手法
② 過剰洗浄・ダメージの考え方
③ 安全・信頼性リスク
3.洗浄プロセスにおける静電気障害と歩留まり不良
3-1 洗浄工程における静電気障害の実例
3-2 スプレー時に発生する帯電メカニズム
3-3 静電気対策技術
① 炭酸水および機能水による効果
② 新たな帯電制御技術
4.次世代洗浄技術とプロセス最適化の方向性
4-1 次世代物理洗浄技術
① インクジェット洗浄
② 超臨界洗浄
③ ピンポイント洗浄
④ Solid Phase Clean洗浄
4-2 プロセス最適化の考え方
① 条件設計の指針
② 再現性確保のポイント
5.国際会議動向と今後の技術トレンド
5-1 UCPSS・SCSTの最新動向
質疑応用
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