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FT-IR・スペクトル解析
実践テクニックを身に付けるための2日間講座

[1日目] FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック・コツ
[2日目] 分析におけるスペクトル解析の基本と応用テクニック

より広くより深い実践テクニックの習得を狙って"スペクトル解析"に絞ったセミナーも開講
 1日目の「FT-IR測定・同定の実際と アプリケーションテクニック・コツ」ではFT-IR(フーリエ変換赤外分光法)の基礎から実際に使うことを想定した知識・ノウハウを学び、2日目ではFT-IR含む各種分光分析におけるスペクトル解析の実践テクニックを習得することが出来ます。
 1日目でもFT-IRのスペクトル解析のノウハウについて講師は言及する予定ですが、2日目にFT-IRは無論のこと、XPS(X線光電子分光法)やラマン分光法など、分光分析におけるスペクトル解析の実践テクニックに絞ってじっくり解説頂くことで、より深くより総合的なスペクトル解析のノウハウを習得頂くことを目指しています。
このセミナーの受付は終了致しました。
日時 [1日目] 2022年2月21日(月)  10:30~16:30
[2日目] 2022年3月14日(月)  10:30~16:30
会場 [1日目] Live配信セミナー(会社・自宅にいながら受講可能)  
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[2日目] Live配信セミナー(会社・自宅にいながら受講可能)  
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受講料(税込)
各種割引特典
77,000円 ( E-Mail案内登録価格 73,150円 ) S&T会員登録とE-Mail案内登録特典について
定価:本体70,000円+税7,000円
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  1名申込みの場合:受講料( 定価:70,400円/E-Mail案内登録価格 66,880円 )

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E-Mail案内登録なら、2名同時申込みで1名分無料 1名分無料適用条件
2名で77,000円 (2名ともE-Mail案内登録必須/1名あたり定価半額38,500円) 
配布資料・1日目、2日目共に製本テキスト(それぞれの開催前日着までを目安に発送)
 ※セミナー資料はお申し込み時のご住所へ発送させていただきます。
 ※それぞれの開催日の4~5日前に発送します。
 ※間近でのお申込みの場合、セミナー資料の到着が開催日に間に合わないことがございます。
オンライン配信ZoomによるLive配信 ►受講方法・接続確認(申込み前に必ずご確認ください)
備考※講義の録画・録音・撮影はご遠慮ください。
※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。
主催者より【受講に際しての注意事項】
 大変申し訳ございませんが、講師とご同業(経営・人事研修・技術コンサルタント、またはこれに類する事業を手掛けている等)の方のご参加はお断り申し上げます。
得られる知識【1日目:FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック・コツ】
・赤外分光法の各種測定法
・アタッチメント特徴と測定技術
・様々な試料・目的に合わせた測定法
・スペクトル処理・解釈の考え方
・混合物解析の実際の手順
・赤外分光法を用いた問題解決の手順

【2日目:分析におけるスペクトル解析の基本と応用テクニック】
・スペクトル解析の基礎から応用、実践
・スペクトルの正しい解釈(定性・定量)とそのためのデータ処理
・良いスペクトルを得るコツ、ノウハウ
・潜在情報を引き出す応用解析法
・データベースの利用 ほか

セミナー講師

セミナー講演内容


[1日目] 2月21日(月) 10:30~16:30
<現場実務で役立つ・使える>
FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック・コツ
※1日目のみのお申込みはコチラから

 赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。
 しかし、実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかは依然重要である。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての解説を十分に行っているものは少ない。
 本講座は、赤外分光法の詳細で専門的な原理ではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心とした。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説する。

1.赤外分光法の基本原理と特徴
 1.1 赤外分光が見ているもの
 1.2 分光分析における吸収の定義
 1.3 吸光度スペクトルと透過スペクトル
 1.4 赤外分光の波長領域
 1.5 赤外分光分析
 1.6 振動モード
 1.7 気体と液体・固体
 1.8 赤外分光法の長所・短所
 1.9 赤外分光法による評価
 1.10 主な検出器と特性
2.代表的な測定法
 2.1 透過法
  2.1.1 透過法
  2.1.2 透過法基本セッティング
  2.1.3 主な窓材
  2.1.4 吸収の飽和
  2.1.5 フリンジ(干渉縞)
 2.2 全反射法(ATR)
  2.2.1 ATR法のバリエーション
  2.2.2 ATR結晶(IRE)の特性
  2.2.3 FTIR-ATRにおける測定深さ
  2.2.4 ATR法における注意点
  2.2.5 ATR補正
  2.2.6 異常分散
 2.3反射法
  2.3.1 反射法
  2.3.2 高感度反射の原理
  2.3.3 スペクトル例
  2.3.4 K-K(Kramers–Kronig)変換
 2.4拡散反射法
  2.4.1 拡散反射法
  2.4.2 スペクトル例
  2.4.3 K-M(Kubelka-Munk)変換
 2.5その他
  2.5.1 光音響分光法(PAS)
  2.5.2 ガスセル
  2.5.3 主な測定法のまとめ
 2.6顕微赤外
  2.6.1 装置
  2.6.2 カセグレンレンズによる光学系
  2.6.3 マッピングとイメージング
  2.6.4 ラマン分光法との対比
3.赤外スペクトル
 3.1 赤外スペクトルの概要
 3.2 主な振動モード
 3.3 主な吸収帯
 3.4 周辺環境の影響
 3.5 イオン性官能基の吸収帯
 3.6 赤外分光の構造敏感性
 3.7 指紋領域の利用
 3.8 カルボニル基の判別
 3.9 スペクトルサーチ
 3.10 スペクトルデータベース
 3.11 オープンライブラリ
 3.12 代表的検索アルゴリズム
 3.13 検索アルゴリズムの限界
 3.14 ヒットスコアの罠
 3.15 検索結果の間違い例
 3.16 スペクトルサーチのコツ
 3.17 差スペクトル
 3.18 基準スペクトルが無いとき
 3.19 混合解析
 3.20 系統解析
 3.21 スペクトルパターン
 3.22 帰属の考え方
4.定量分析
 4.1 検量線法
 4.2 検量線法が適用困難なケース
 4.3 ピーク強度比法
 4.4 内標準法
 4.5 誤差要因
5.大気成分補正
 5.1 大気成分(CO2、H2O)
 5.2 窒素パージ法
 5.3 差分法
6.測定条件
 6.1 積算回数と分解能
 6.2 積算回数の考え方
 6.3 誤差要因
7.スペクトル処理
 7.1 ベースライン補正
 7.2 スムージング・補間
 7.3 ベースライン
 7.4 ピーク高さと面積
 7.5 自動処理の注意点
8.混合物の解析
 8.1 混合物のスペクトル
 8.2 差スペクトル
 8.3 ピーク分離
 8.4 ATR法における差スペクトル
 8.5 他手法との組み合わせ
9.様々な試料
 9.1 バルク
 9.2 フィルム
 9.3 紛体
 9.4 液体
 9.5 異物・微小部
 9.6 繊維
 9.7 汚染・付着物
 9.8 黒色試料
 9.9 高次構造
10.水素結合
11.バルク(全体平均)分析
12.角度変化法
13.温度変化測定
14.FTIRにおける注意点
15.事例
16.フィルム上汚染
17.Pi/Cu/Si界面の解析
18.時間分解測定
19.まとめ
20.質疑

[2日目] 3月14日(月) 10:30~16:30
分析におけるスペクトル解析の基本と応用テクニック
分光分析における前処理・同定・解析の基礎知識とテクニック
※2日目のみのお申込みはコチラから

 FT-IRやXPSを中心としたいわゆる分光分析は、材料やプロセスの解析・評価、トラブル解決において必要不可欠なものとなっている。開発当初は、スペクトルを得るだけでも長い時間と高度な技術を要した。しかし、近年の技術進歩で誰でも簡便にスペクトルを取得できる、場合によっては装置導入日に教科書に出ているようなきれいなスペクトルを得られることも少なくない。
 言うまでもなく、スペクトルは得られれば目的が達成できるわけではなく、解析して初めて必要な情報を得て問題解決、目的達成をすることができる。また、その解析に用いることができるスペクトルであるかということを判断することも重要である。しかし、装置の進歩だけでなく、コンピューターやソフトの進歩もあり、現在では解析も多くの部分が自動化、ブラックボックス化されている。そのため、間違った結論が導かれてしまっているケースが少なくない。
 本講では、スペクトル解析の基本的な考え方から、前処理、同定や定量から数学的アプローチなどの解析、実際の様々な事例や手法による分析例などを詳細に解説する。

1. スペクトル解析の基本 
 1.1 分析の基本フロー
 1.2 正確なデータを得るために
 1.3 AccuracyとPrecision
 1.4 真値と測定値
 1.5 平均値の意味
 1.6 信頼度要因を整理する
 1.7 スペクトルと言えば
 1.8 横軸、縦軸の意味
 1.9 基本ピーク形状
 1.10 なぜピークには幅があるのか
 1.11 半値幅の持つ意味
 1.12 ピーク変化(位置、半値幅)の意味
 1.13 スペクトル解析の分類
 1.14 スペクトルから構造・状態へ
 1.15 ピーク? ノイズ?
 1.16 データ解釈における認知バイアス
 1.17 動的に見る
 1.18 分析という行為の影響
2.スペクトルの前処理 
 2.1 スペクトル前処理の分類
 2.2 ベースライン補正
 2.3 スムージング
 2.4 スムージングの影響
 2.5 補間
 2.6 自動処理の注意点
 2.7 最も重要なこと
3.解析的前処理(FT-IRを例に) 
 3.1 大気成分(CO2、H2O)補正
 3.2 スペクトル補正
 3.3 スペクトル変換
 3.4 注意点
4.スペクトルの解析(同定・定性) 
 4.1 同定と定性
 4.2 ピーク帰属
 4.3 複数ピークの併用
 4.4 スペクトルパターン
 4.5 ピーク帰属の裏ポイント
 4.6 スペクトルデータベース
 4.7 スペクトルサーチ
 4.8 代表的検索アルゴリズム
 4.9 検索アルゴリズムの限界
 4.10 ヒットスコアの罠
 4.11 検索結果の間違い例
 4.12 スペクトルサーチのコツ
 4.13 混合解析
 4.14 オープンライブラリ
5.スペクトルの解析(定量) 
 5.1 ピーク高さと面積
 5.2 ベースラインの引き方
 5.3 より正確な定量値を得るために
 5.4 ピークの重なり
 5.5 スペクトルのピーク分離
 5.6 ピーク分離における条件設定
 5.7 検量線法による定量
 5.8 定量値に対する影響要因
 5.9 限界の定義を理解する
 5.10 変動要因の軽減
 5.11 感度因子
6.数学的アプローチによる物理意味の導出 
 6.1 相関解析
 6.2 スペクトルへの適用例
 6.3 相関解析の注意点
 6.4 多変量解析
 6.5 スペクトルは?
 6.6 本来のスペクトル解析
 6.7 単なる道具
7.各種測定法の例 
 7.1 フーリエ変換赤外分光法(FT-IR) 
  7.1.1 赤外分光法(IR)の原理
  7.1.2 吸光度スペクトルと透過スペクトル
  7.1.3 主な吸収帯
  7.1.4 主な有機系官能基の吸収帯
  7.1.5 イオン性官能基の吸収帯
  7.1.6 赤外分光の構造敏感性
  7.1.7 指紋領域の利用
  7.1.8 カルボニル基の判別
  7.1.9 系統解析
  7.1.10 帰属の考え方
  7.1.11 異常分散によるスペクトルへの影響
  7.1.12 ATR適用の注意点と対策
  7.1.13 検量線法
  7.1.14 検量線法が適用困難なケース
  7.1.15 ピーク強度比法
  7.1.16 誤差要因
  7.1.17 配向図
  7.1.18 正常部と異常部の比較
  7.1.19 差スペクトル
  7.1.20 標準スペクトルとの比較
  7.1.21 透過測定の場合
  7.1.22 差スペクトルが上手くいかない?
  7.1.23 水素結合
  7.1.24 高度な構造解析
 7.2 ラマン分光法 
  7.2.1 ラマン散乱
  7.2.2 レーザー波長と散乱強度
  7.2.3 ラマンスペクトル
  7.2.4 ラマンスペクトルの解析
  7.2.5 ラマンイメージング
 7.3 X線光電子分光法(XPS,ESCA) 
  7.3.1 XPSの原理
  7.3.2 ワイドスキャン(サーベイスキャン)
  7.3.3 ナロースキャン
  7.3.4 元素同定
  7.3.5 化学状態の同定
  7.3.6 紫外線照射前後スペクトル
  7.3.7 定量評価
  7.3.8 XPSにおけるベースラインの選択
  7.3.9 オージェピークの利用
  7.3.10 サテライトピークの利用
  7.3.11 価電子帯の利用
  7.3.12 角度変化測定による深さ方向分析
 7.4 オージェ電子分光法(AES) 
  7.4.1 AESの原理
  7.4.2 AESスペクトル例
  7.4.3 界面拡散の分析
  7.4.4 チャージアップの影響
 7.5 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS) 
  7.5.1 TOF-SIMS装置の構成
  7.5.2 TOF-SIMSの概要
  7.5.3 マススペクトル
  7.5.4 マススペクトルの解析
  7.5.5 TOF-SIMSによる化学構造解析
8.その他の追記 
 8.1 角度変化ATR法
 8.2 角度変化法(XPS)
 8.3 角度変化法の注意点
 8.4 マッピングと多変量解析(PCA等)
9.実例 
10.ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析 
11.仮説思考による研究開発と問題解決 
12.まとめと質疑