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FT-IRによる異物分析

~異物発生から問題解決へのアプローチ~

■FT-IRを使用した異物問題解決の流れ■
■異物の発生から問題解決までの一連の対処法■
■FT-IRのスペクトル取得後のスペクトル解析■

受講可能な形式:【Live配信】のみ

FT-IRの基礎的な知識を得て、効率的で的確な異物分析を
異物の収集方法、確認できる情報、FT-IRの測定方法、解析方法、、、
FT-IRのメリット/デメリットとちょっとしたコツ
どんな情報が得られるのか、測定での約束事、やってはいけないこと、
サンプリング、前処理、スペクトルの処理・解析、、、、、、
「実際にできること」「装置を上手く使うこと」を意識して解説します
日時 2023年1月30日(月)  13:00~16:30
会場 Live配信セミナー(会社・自宅にいながら受講可能)  
会場地図
受講料(税込)
各種割引特典
44,000円 ( E-Mail案内登録価格 41,800円 ) S&T会員登録とE-Mail案内登録特典について
定価:本体40,000円+税4,000円
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テレワーク応援キャンペーン(1名受講)【Live配信/WEBセミナー受講限定】
1名申込みの場合:受講料( 定価:35,200円/E-Mail案内登録価格:33,440円 )

 定価:本体32,000円+税3,200円
 E-Mail案内登録価格:本体30,400円+税3,040円
1名様でLive配信/WEBセミナーを受講する場合、上記特別価格になります。
※お申込みフォームで【テレワーク応援キャンペーン】を選択のうえお申込みください。
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配布資料電子媒体(PDFデータ/印刷可)
・弊社HPのマイページよりダウンロードいただきます。
・開催2日前を目安に、ダウンロード可となります。
・ダウンロードには会員登録(無料)が必要となります。
オンライン配信ZoomによるLive配信 ►受講方法・接続確認(申込み前に必ずご確認ください)
備考※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。
得られる知識・異物トラブルへの対処方法
・異物対応にまつわる関連部署との連携・コミュニケーション方法
・FT-IRによる異物の分析方法
・FT-IRの基本的な測定方法・きれいなスペクトルを得るコツ
・FT-IRだけで解決する異物と他の分析機器との併用が必要な異物
対象・異物分析や異物トラブル対応をしている方
・分析業務に従事している方
・異物混入などのクレーム対応を行う部門の方
キーワード:FT-IR、コミュニケーション、比較分析、データベース、迅速な問題解決、差スペクトル

セミナー講師

あなりす 代表 工学博士 岡田 きよみ 氏
【講師紹介】

セミナー趣旨

 異物分析において重要なことは、迅速かつ簡便に原因を知り、異物クレームへの対処や異物発生の抑制へとつなげることにあります。本講演では、目に見える異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認できる情報、測定方法、解析方法、問題解決にむけてのアプローチなど、一連の流れがわかるように事例を交えながら解説します。
 分析装置に関しては、異物分析で最も使用頻度の高いFT-IR分析に焦点をあてて話を進めていきます。特に本体測定のATR法を中心にお話します。測定から解析までのポイント、そして問題解決のための分析とはどういうことなのかを解説していきます。
 本講演では、「実際にできること」「装置を上手く使うこと」を意識しています。そのためには、皆様のご質問はとても重要です。どんなことでも遠慮無くご質問下さい。

セミナー講演内容

1.はじめに
 1.1 本セミナーのポイント
 1.2 分析の目的

2.異物の概要
 2.1 異物とは何か
 2.2 異物の種類

3.異物の分析方法
 3.1 異物分析で大切なこと
 3.2 異物分析の手順
 3.3 製造工程でわかること
 3.4 観察でわかること
 3.5 異物のサンプリング方法
 3.6 異物の情報収集
 3.7 コミュニケーションの大切さ
 3.8 問題解決に向けてのアプローチ
 3.9 分析装置を使わないでできる分析

4.FT-IRを使用した異物分析
 4.1 異物分析の中のFT-IR
 4.2 FT-IRの概要
 4.3 異物でよく使用されるFT-IRの測定方法
 4.4 異物の大きさと空間分解能(微小異物への対応)
 4.5 きれいなスペクトルを得るコツ
 4.6 FT-IR測定のためのサンプリングと前処理
 4.7 スペクトルの解析
  a.よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
  b.データベースをうまく使う
  c.問題解決のための解析とは何か

5.FT-IR以外の分析装置
 5.1 SEM-EDS
 5.2 蛍光X線
 5.3 GC、GC-MSおよびLC

6.異物分析の実施例
 6.1 材料の分散不良による異物分析
 6.2 食品中の異物分析
 6.3 歩留まり向上のための異物分析
 6.4 原因探索実験によって起因物質を検証した異物分析
 6.5 長期データ蓄積によって解決した異物分析
 6.6 劣化に起因した異物分析

7.まとめ

8.質疑応答