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【Live(リアルタイム)配信】
分析におけるスペクトル解析の基本と応用テクニック

実務で使える前処理・同定・解析の基礎知識と基本テクニック

XPS、FT-IR、TOF-SIMS…etc.
各種分光分析におけるスペクトル解析をまとめて解説!
基本的な考え方から前処理、同定や解析方法まで、実際の様々な事例を交えて詳説します
日時 2021年3月2日(火)  10:30~16:30
会場 Live配信セミナー(リアルタイム配信) ※会社・自宅にいながら学習可能です※  
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受講料(税込)
各種割引特典
49,500円 ( S&T会員受講料 46,970円 ) S&T会員登録について
定価:本体45,000円+税4,500円
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  1名申込みの場合:受講料( 定価:35,200円/S&T会員 33,440円 )

 35,200円 ( S&T会員受講料 33,440円 )
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特典【セミナー受講特典コンサルティング】 ※ コンサルティング料は受講料とは別になります。
 セミナーに受講して名刺交換をさせて頂いた方への特典サービスとして、初回限定で限定特別料金にてコンサルティングをご利用いただけます。技術的な相談はもちろん、戦略相談、オンサイトセミナーなど、依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。
 技術コンサルティングには興味があるが利用したことがないので、どのようなものか良くわからず正式依頼に踏み切れない、決裁を取るために一度ディスカッションしたいという方は、是非この機会に、JRLのコンサルティングを御体験ください。限定特典ではありますが、必ず満足のいただける内容でお応えします。
 
<依頼条件>
・初回1回のみ
・セミナー実施日より3カ月以内に依頼が成立
・費用:内容によらず定額の限定特別料金
配布資料・製本テキスト(開催前日着までを目安に発送)
 ※セミナー資料はお申し込み時のご住所へ発送させていただきます。
 ※開催日の4~5日前に発送します。
  開催前日の営業日の夕方までに届かない場合はお知らせください。

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Zoom上ではスライド資料は表示されますので、セミナー視聴には差し支えございません。
オンライン配信【ZoomによるLive配信】
  ・本セミナーはビデオ会議ツール「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。
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  ・リアルタイムで講師へのご質問も可能です。
  ・タブレットやスマートフォンでも視聴できます。
備考資料付
※講義の録画・録音・撮影はご遠慮ください。
主催者より【受講に際しての注意事項】
 大変申し訳ございませんが、講師とご同業(経営・人事研修・技術コンサルタント、またはこれに類する事業を手掛けて
 いる等)の方のご参加はお断り申し上げます。
得られる知識・スペクトル解析の基礎から応用、実践
・スペクトルの正しい解釈(定性・定量)とそのためのデータ処理
・良いスペクトルを得るコツ、ノウハウ
・潜在情報を引き出す応用解析法
・データベースの利用
対象・企業等の分析部門、大学等の分析センター、公設試験センターの担当者、リーダー等
・研究開発部門、研究機関の担当者、リーダー等
・その他、技術部門全般
前月開催予定セミナー「FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック・コツ」とセット受講が可能です。セットお申込みについては下記をご参照下さい
2月3日/3月2日開講『FT-IR・スペクトル解析 実践テクニックを身に付けるための2日間講座』

 2日間講座にすることで、まずFT-IRの活用方法を学び、その後にFT-IRやXPS(X線光電子分光)等の各種分光分析におけるスペクトル解析のテクニックやノウハウを教えることで、受講者の理解をより深めることを狙っています。FT-IRに限らず分光分析を使った業務を手掛ける方、FT-IRのみに関心がある方でも特にスペクトル解析について知りたいという方は、2日間の受講がおすすめです。

【2日間講座の受講を検討するにあたっての注意事項】
セット申し込み対象セミナー(分析におけるスペクトル解析の基本から応用テクニック)においてもスペクトル解析に関しては講師に解説頂く予定です。本セミナーは、より深くFT-IRについて学べる内容となっておりますが、セット申し込み対象セミナー間で内容が一部重複しますこと、ご了承下さい。

セミナー講師

セミナー趣旨

 FT-IRやXPSを中心としたいわゆる分光分析は、材料やプロセスの解析・評価、トラブル解決において必要不可欠なものとなっている。開発当初は、スペクトルを得るだけでも長い時間と高度な技術を要した。しかし、近年の技術進歩で誰でも簡便にスペクトルを取得できる、場合によっては装置導入日に教科書に出ているようなきれいなスペクトルを得られることも少なくない。
 言うまでもなく、スペクトルは得られれば目的が達成できるわけではなく、解析して初めて必要な情報を得て問題解決、目的達成をすることができる。また、その解析に用いることができるスペクトルであるかということを判断することも重要である。しかし、装置の進歩だけでなく、コンピューターやソフトの進歩もあり、現在では解析も多くの部分が自動化、ブラックボックス化されている。そのため、間違った結論が導かれてしまっているケースが少なくない。
 本講では、スペクトル解析の基本的な考え方から、前処理、同定や定量から数学的アプローチなどの解析、実際の様々な事例や手法による分析例などを詳細に解説する。

セミナー講演内容

1.スペクトル解析の基本
 1.1 分析の基本フロー
 1.2 正確なデータを得るために
 1.3 AccuracyとPrecision
 1.4 真値と測定値
 1.5 平均値の意味
 1.6 信頼度要因を整理する
 1.7 シューハート管理図
 1.8 横軸、縦軸の意味
 1.9 基本ピーク形状
 1.10 なぜピークには幅があるのか
 1.11 半値幅の持つ意味
 1.12 ピーク変化(位置、半値幅)の意味
 1.13 スペクトル解析の分類
 1.14 スペクトルから構造・状態へ
 1.15 ピーク? ノイズ?
 1.16 データ解釈における認知バイアス
 1.17 動的に全体を見る
 1.18 仰望視点と俯瞰視点
 1.19 分析という行為の影響

2.スペクトルの前処理
 2.1 スペクトル前処理の分類
 2.2 ベースライン補正
 2.3 スムージング
 2.4 スムージングの影響
 2.5 補間
 2.6 微分
 2.7 対数化
 2.8 平均化
 2.9 ノーマライズ、規格化(レンジスケール)
 2.10 自動処理の注意点
 2.11 最も重要なこと

3.解析的前処理(FTIRを例に)
 3.1 大気成分(CO2、H2O)補正
 3.2 完全窒素パージ法
 3.3 差分法
 3.4 スペクトル補正
 3.5 スペクトル変換
 3.6 注意点

4.スペクトルの解析(同定・定性)
 4.1 同定と定性
 4.2 ピーク帰属
 4.3 複数ピークの併用
 4.4 スペクトルパターン
 4.5 ピーク帰属の裏ポイント
 4.6 スペクトルデータベース
 4.7 スペクトルサーチ
 4.8 代表的検索アルゴリズム
 4.9 検索アルゴリズムの限界
 4.10 ヒットスコアの罠
 4.11 検索結果の間違い例
 4.12 スペクトルサーチのコツ
 4.13 スムージングの利用
 4.14 差スペクトルの利用
 4.15 混合解析
 4.16 オープンライブラリ

5.スペクトルの解析(定量)
 5.1 ピーク高さと面積
 5.2 ベースラインの引き方
 5.3 より正確な定量値を得るために
 5.4 ピーク分離
 5.5 ピーク分離における条件設定
 5.6 検量線法による定量
 5.7 定量値に対する影響要因
 5.8 限界の定義を理解する
 5.9 変動要因の軽減
 5.10 感度因子

6.数学的アプローチによる物理意味の導出
 6.1 相関解析
 6.2 スペクトルへの適用例
 6.3 相関解析の注意点
 6.4 多変量解析
 6.5 多変量解析の種類
 6.6 多変量解析の応用
 6.7 主成分分析(PCA)
 6.8 スペクトルへの応用(PCA)
 6.9 PCR、PLS:予測
 6.10 本来のスペクトル解析

7.各種測定法の例
 7.1 フーリエ変換赤外分光法(FT-IR)
  7.1.1 赤外分光法(IR)の原理
  7.1.2 吸光度スペクトルと透過スペクトル
  7.1.3 主な吸収帯
  7.1.4 赤外分光の構造敏感性
  7.1.5 指紋領域の利用
  7.1.6 カルボニル基の判別
  7.1.7 系統分析
  7.1.8 帰属の考え方
  7.1.9 ATR法における差スペクトル
  7.1.10 異常分散によるスペクトルへの影響
  7.1.11 ATR適用の注意点と対策
  7.1.12 検量線法
  7.1.13 ピーク強度比法
  7.1.14 誤差要因
  7.1.15 配向解析
  7.1.16 正常部と異常部の比較
  7.1.17 差スペクトル
  7.1.18 高度な構造解析
 7.2 ラマン分光法
  7.2.1 ラマン散乱
  7.2.2 レーザー波長と散乱強度
  7.2.3 ラマンスペクトル
  7.2.4 ラマンスペクトルの解析
  7.2.5 ラマンイメージング
 7.3 X線光電子分光法(XPS,ESCA)
  7.3.1 XPSの原理
  7.3.2 ワイドスキャン、ナロースキャン
  7.3.3 元素同定
  7.3.4 化学状態の同定
  7.3.5 構造変化解析
  7.3.6 定量評価
  7.3.7 XPSにおけるベースラインの選択
  7.3.8 オージェピークの利用
  7.3.9 サテライトピークの利用
  7.3.10 価電子帯の利用
  7.3.11 角度変化測定による深さ方向分析
  7.3.12 ハイブリッド分析
 7.4 オージェ電子分光法(AES)
  7.4.1 AESの原理
  7.4.2 AESスペクトル例
  7.4.3 界面拡散の分析 1
  7.4.4 チャージアップ軽減
 7.5 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
  7.5.1 TOF-SIMS装置の構成
  7.5.2 TOF-SIMSの概要
  7.5.3 マススペクトル
  7.5.4 TOF-SIMSによる化学構造解析

8.その他の追記
 8.1 角度変化ATR法
 8.2 角度変化法(XPS)
 8.3 角度変化法の注意点
 8.4 マッピングと多変量解析(PCA等)
 8.5 PCAによるノイズ除去

9.実例:ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析

10.まとめと質疑