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FT-IRによる異物分析
~FT-IRのメリット/デメリットとちょっとしたコツ~

■FT-IRを使用した異物問題解決の流れ■
■異物分析の基本的な考え方■
■異物の発生から問題解決までの一連の対処法■

FT-IRの基礎的な知識を得て、効率的で的確な異物分析をできるようになろう
数μm~の異物を対象に、異物の収集方法、確認できる情報、FT-IRの測定方法、解析方法、、、
問題解決にむけてのアプローチ!!

FT-IRでどんな情報が得られるのか、測定での約束事、やってはいけないこと、
サンプリング、前処理、スペクトルの解析、、、、、、
日時 2020年1月21日(火)  10:30~16:30
会場 東京・品川区大井町 きゅりあん  6F 中会議室
会場地図
受講料(税込)
各種割引特典
49,500円 ( S&T会員受講料 47,020円 ) S&T会員登録について
定価:本体45,000円+税4,500円
会員:本体42,750円+税4,270円
S&T会員なら、2名同時申込みで1名分無料 1名分無料適用条件
2名で49,500円 (2名ともS&T会員登録必須​/1名あたり定価半額24,750円) 
備考資料・昼食付
※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
※講義中のパソコン使用はキーボードの打音などでご遠慮いただく場合がございます。
得られる知識・FT-IRを使用した異物問題解決の流れ
・異物分析の基本的な考え方
・異物の発生から問題解決までの一連の対処法
・FT-IRの異物分析の可能性
対象・FT-IRを使用した分析に興味のある方
・FT-IRを異物分析に活用したいと思われている方
・異物分析でFT-IRを使用しているが、何かうまくいっていないと感じている方
・異物対策やそれに伴うクレーム対応に苦慮している方
キーワード:コミュニケーション、比較分析、分離、きれいなスペクトル、データベース

セミナー講師

あなりす 代表 工学博士 岡田 きよみ 氏
【講師紹介】

セミナー趣旨

 異物分析においてFT-IRは多用される分析機器である。本講演では、FT-IRの基礎的な知識を得ることによって、より効率よく異物分析ができるようになることを目的としている。具体的には、数μm~の異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認できる情報、FT-IRの測定方法、解析方法、問題解決にむけてのアプローチなど、一連の分析手順について事例を交えながら解説する。さらに、FT-IRでできる分析とできない分析の事例をあげることで、FT-IRのデメリットについても学べるよう工夫している。

セミナー講演内容

1.はじめに
 (1)大切な分析の視点とは
 (2)分析の目的は何か
 (3)分析の中のFT-IR

2.異物の概要 
 (1)異物とは何か
 (2)異物の種類

3.異物分析の分析方法
 (1)異物分析で大切なこと
 (2)異物分析の手順
 (3)観察でわかること
 (4)異物のサンプリング方法
 (5)異物の情報収集
 (6)問題解決に向けてのアプローチ

4.FT-IRを使用した異物分析
 (1)異物分析の中のFT-IR
 (2)装置の概要
  a. FT-IRでどんな情報が得られるのか
  b. FT-IR測定での約束事
 (3)FT-IRの測定方法と測定のコツ
  a. 本体測定-透過法と使用例
  b. 本体測定-反射法と使用例
  c. 本体測定-ATR法と使用例
  d. 顕微IRを用いた測定
  e. 顕微IR-イメージング法:2次元可視化のメリット/デメリット
 (4)FT-IR測定のためのサンプリングと前処理
  a. ちょっと便利なグッズ
  b. 前処理

5.スペクトルの解析
 (1)データベースの重要性
 (2)データベースの作成
 (3)よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
 (4)検量線作成およびサンプルの定量
 (5)構造解析
 (6)ピークの細かな違い
  a.ピークシフト
  b.ピーク強度比
  c.ピーク幅
  d.ピーク歪み
 (7)問題解決のための解析

6.FT-IR以外の分析装置
 (1)SEM-EDS
 (2)蛍光X線
 (3)GC、GC‐MSおよびLC

7.異物分析の実施例
 (1)FT-IRが活躍した例
 (2)FT-IRではできなかった例

8.よくある質問
 (1)サンプリングに関すること
 (2)スペクトルに関すること

9.まとめ

  □質疑応答□