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事例から学ぶ、FT-IR分析の基礎と最新技術
~これまでの豊富な事例と最近話題の技術を解説!~

~出来ること・出来ないこと、特定装置にバイアスをかけず本音で解説!~

★ FT-IRスペクトルから情報を得て、材料開発やトラブル解決に活用するポイントとは?
★ たくさんの事例と最近の技術で、異物問題の現状とFT-IRでの対応策を学ぶ!
このセミナーの受付は終了致しました。
日時 2019年11月13日(水)  10:30~16:30
会場 東京・品川区大井町 きゅりあん  5F 第4講習室
会場地図
講師 (株)住化分析センター 大阪ラボラトリー 技術開発センター グループリーダー 末広 省吾 氏
【主な経歴、自己紹介】
1992年住化分析センター入社後、異物分析に必要な設備導入・ラボ整備から、事業立ち上げまで携わりました。その後、各種材料のマイクロアナリシス、製造工程管理分析(設備洗浄確認試験)、次世代蓄電池材料評価技術開発(NEDO)および放射光による分析技術開発等を行ってきました。しかしながら、いずれの業務でも分析試料中の混入異物による問題に対して何らかの形で繋がっていたのが実情です。これまでの業務経験を通じて、様々な角度から異物問題の現状と対応策について解説する事で、聴講者の皆様のお役に立つ事が出来れば幸いです。
【WebSite】
http://www.scas.co.jp/
受講料(税込)
各種割引特典
49,500円 ( S&T会員受講料 47,020円 ) S&T会員登録について
定価:本体45,000円+税4,500円
会員:本体42,750円+税4,270円
S&T会員なら、2名同時申込みで1名分無料 1名分無料適用条件
2名で49,500円 (2名ともS&T会員登録必須​/1名あたり定価半額24,750円)
備考※資料・昼食付
※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
※講義中のパソコン使用はキーボードの打音などでご遠慮いただく場合がございます。

セミナー趣旨

 FT-IR分析法は、電子顕微鏡では観察することが難しい微細な分子構造を、赤外光を照らしながら“影”を見て推定する手段です。
 本講座では、様々な材料に対する分析事例を通じて、“影”であるFT-IRスペクトルから情報を得て、材料開発やトラブル解決に活用するポイントについて解説します。また、FT-IR分析で出来ることだけでなく、測定出来ない場合の代替法についても提案します。製品検査、品質管理、機器分析を担当されている技術者の方のみならず、顧客相談窓口、営業の方にも役立つ内容です。

セミナー講演内容

<得られる知識・技術>
1.材料開発やトラブル解決のためのFT-IR活用策
2.次善の策に向けた様々な分析手法の選択
3.IR分析の最近の技術トレンド

<プログラム>
1.イントロ ~FT-IR分析で得られる情報と限界~

2.FT-IR分析とは?

 2.1 FT-IR分析の原理および特徴
 2.2 装置の構成・メンテナンス
 2.3 特性吸収ピークの発生
 2.4 試料形態による測定法の選択
 2.5 試料サンプリング
 2.6 測定条件の設定
 2.7 測定結果表示までのフロー
 2.8 スペクトルの連続取得(ライン分析、イメージングIR)

3.スペクトルの解釈
 3.1 正しいスペクトルが得られているか?
 3.2 スペクトルに現れる特徴とは?
 3.3 官能基領域と指紋領域
 3.4 解析から同定へのフロー
 3.5 ライブラリ検索
 3.6 ラマン分光法との比較・使い分け
 3.7 正しい解析と正しい解釈

4.様々な試料への適用例
 4.1 溶液中の微小異物
 4.2 劣化混入樹脂
 4.3 多層材料(フィルム、インクジェット用紙、LCDパネル)
 4.4 毛髪
 4.5 樹脂の配向(偏光測定、X線測定による支援)
 4.6 インクジェット対応DVD-Rのインク受容層(GC-MSによる支援)
 4.7 潤滑剤(NMRによる支援)

5.新規なアプローチと応用
 5.1 ブレークスルーが必要な理由
 5.2 放射光
 5.3 近接場光
 5.4 熱振動に基づく測定

6.まとめ
 6.1 問題演習
 6.2 個別相談

  □質疑応答・名刺交換□