研究・技術・事業開発のためのセミナー/書籍

セミナーセミナー番号:B181018(表面分析)

エレクトロニクス | 化学・材料 | エネルギー・環境・機械
セミナー
【 2 名 同 時 申 込 で 1 名 無 料 】 対 象 セ ミ ナ ー

表面・界面の考え方と分析の基礎と実践応用

考え方、ノウハウ、テクニック、アプローチ、方法まで余すところなく教えます

「悪魔がつくった」なんて言われるほど複雑・難解な"表面・界面"を適切に分析・評価するのは一筋縄ではいかないもの。表面・界面に対する考え方や分析手法の紹介から実践的なテクニック・ノウハウ、アプローチ法まで、事例を交えて解説します。
日時 2018年10月18日(木)  10:30~16:30
会場 東京・品川区大井町 きゅりあん  6F 中会議室
会場地図
受講料(税込)
各種割引特典
48,600円 ( S&T会員受講料 46,170円 ) S&T会員登録について
定価:本体45,000円+税3,600円
会員:本体42,750円+税3,420円
S&T会員なら、2名同時申込みで1名分無料 1名分無料適用条件
2名で48,600円 (2名ともS&T会員登録必須/1名あたり定価半額24,300円) 
特典【セミナー受講特典コンサルティング】 ※ コンサルティング料は受講料とは別になります。
 セミナーに受講して名刺交換をさせて頂いた方への特典サービスとして、初回限定で限定特別料金にてコンサルティングをご利用いただけます。技術的な相談はもちろん、戦略相談、オンサイトセミナーなど、依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。
 技術コンサルティングには興味があるが利用したことがないので、どのようなものか良くわからず正式依頼に踏み切れない、決裁を取るために一度ディスカッションしたいという方は、是非この機会に、JRLのコンサルティングを御体験ください。限定特典ではありますが、必ず満足のいただける内容でお応えします。
 
<依頼条件>
・初回1回のみ
・セミナー実施日より3カ月以内に依頼が成立
・費用:内容によらず定額の限定特別料金
備考資料・昼食付
※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
※講義中のパソコン使用はキーボードの打音などでご遠慮いただく場合がございます。
主催者より講師と類似した研修サービス等の提供するコンサルタント、経営コンサルティング会社所属の方は受講をお断りすることがございます。また、所属を記載されないでお申し込みされた場合、所属を確認させて頂くことがございます。
得られる知識・表面分析の基礎
・表面分析の考え方と活用法
・各種表面分析手法の使い方
・表面、界面の可視化法
・研究開発、問題解決へのフィードバック
対象・研究開発部門、分析部門、製造部門、品質保証部門など技術部門全般
・若手から中堅を中心とした担当者
・部署マネジメント、部下を教育する管理者、マネージャー
翌月開催予定セミナー「接着制御・メカニズム解析の考え方と分析評価法」とセット受講が可能です。セットお申込みについてはコチラをご覧ください。

2日間講座にすることで、まず最初に表面・界面に対する考え方や分析方法を学び、その後に接着、剥離に特化した表面・界面メカニズムや諸問題に対処する方法を知ることで、受講者の理解を深めることを狙っています。表面・界面分析の中でも、特に接着分析を学びたいという方は2日間の受講がおすすめです。

講師

趣旨

 表面、界面はあらゆる技術や製品の基盤となるものであり、現在扱われる材料やプロセス、技術、商品で表面や界面が関与していないものは無いと言っても過言ではない。これは言い方を変えると、現代は表面、界面に支配されているということになる。これほど重要なものであることから、分析手法一つにしても多種多様なものが開発され、利用されている。しかし、一方で表面や、特に界面はまだ未解明な部分も多く、その本当の姿を明らかにして利用することは容易ではない。
 本講では、表面、界面の基礎から、分析評価を中心にして、その姿を明らかにして利用するためのアプローチについて、技術的テクニック、コツやノウハウから、考え方、アプローチに方法まで応用アプリケーションの事例を交えて解説する。

プログラム

1.表面に支配される現代社会
 1.1 膜・界面、そして、現代技術を支配する表面
 1.2 表面・界面で発生する代表的事象

2.表面とは
 2.1 表面とは?
 2.2 表面の要素
 2.3 表面における現象

3.界面とは
 3.1 界面における現象
 3.2 多層膜による界面形成
 3.3 薄膜化による界面の変化

4.表面・界面を支配するもの
 4.1 界面形成
 4.2 界面を形成する力
 4.3 表面・界面形成を支配するもの
 4.4 界面形成因子と評価法
 4.5 表面を支配するには

5.表面分析成功のキーポイント
 5.1 表面分析の心構え
 5.2 サンプルの取り扱い

6.代表的表面分析手法
 6.1 表面分析の分類
  6.1.1 表面分析に用いる主な手法と選び方
  6.1.2 表面・微小部の代表的分析手法
 6.2 X線光電子分光法(XPS)
  6.2.1 元素同定
  6.2.2 化学状態の同定
  6.2.3 角度変化測定による深さ方向分析
  6.2.4 ハイブリッド分析
  6.2.5 チャージアップの工夫と注意点
  6.2.6 イオンエッチングの工夫と注意点
  6.2.7 界面で正体不明のピークシフト
  6.2.8 ちょっと便利なサイトやソフト
 6.3 オージェ電子分光法
  6.3.1 複数成分の分布分析
  6.3.2 界面領域の分析
  6.3.3 XPSとの違い
 6.4 EPMA
  6.4.1 元素分布測定
  6.4.2 空間分解能の考え方
 6.5 フーリエ変換赤外分光法
  6.5.1 測定法
  6.5.2 周辺環境の影響
  6.5.3 主な吸収帯
  6.5.4 指紋領域の利用
  6.5.5 カルボニル基の判別
  6.5.6 系統分析
  6.5.7 帰属の考え方
  6.5.8 全反射法(ATR法)
  6.5.9 ATRのコツ、ポイント、注意点
  6.5.10 in-situ分析
 6.6 TOF-SIMS
  6.6.1 化学構造が分かる原理
  6.6.2 化学構造解析
 6.7 形態を知る
  6.7.1 形態観察と物性分析法
  6.7.2 SEM(走査型電子顕微鏡)、TEM(透過型電子顕微鏡)
 6.8 走査型プローブ顕微鏡(SPM)

7.界面分析
 7.1 界面評価の重要性と課題
 7.2 界面の分類
 7.3 界面における課題
 7.4 従来法と問題点
 7.5 精密斜め切削法

8.解析の実例
 8.1 UV照射による化学構造の評価
 8.2 化学修飾法を用いた表面官能基イメージング
 8.3 ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
 8.4 PI/Cu/Si界面の解析
 8.5 UV表面処理による構造変化の深さ方向解析

9.仮説思考による研究開発と問題解決

10.まとめ

11.質疑応答

関連商品

当サイトはグローバルサイン社によりセキュリティ認証をされています。
SSLページ(https)からの情報送信は暗号化技術により保護されます。