セミナー番号:B081114(誘電率測定)
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  ★基礎・原理から実際の測定をまじえ上手な測定方法やポイント、活かし方などを解説
高分子材料の誘電率測定・評価

講師        : 立命館大学 理工学部 物理科学科 教授 深尾 浩次 氏

【研究内容】
これまで、一貫して高分子・鎖状分子を対象として、それらの示す固相転移、結晶化、ガラス転移などの現象のメカニズムをX線回折、光学顕微鏡観察、熱測定、および、誘電緩和測定を用いて、実験的に明らかにしている。

日時        : 2008年11月14日(金) 13:00〜16:30

会場        : 東京・江東区有明 東京ビッグサイト会議棟 8F 801
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受講料     :
(税込)
42,000円
 ⇒E-mail案内登録会員 39,900円
  ※資料付
上記価格より:<2名で参加の場合1名につき7,350円割引><3名で参加の場合1名につき10,500円割引>(同一法人に限ります)

講演内容  : <趣旨>
 新機能発現のために新規に合成された高分子材料や既存の高分子材料の評価はマテリアルサイエンスにとって不可欠となっている。とくに、そのような高分子材料の種々の物性の温度・時間変化を評価することは非常に重要であり、そのための実験手法の一つとして、誘電緩和スペクトロスコピー法が古くから知られている。本講座ではこの誘電緩和スペクトロスコピー法の基礎的な原理からはじめて、実際の測定例を紹介したい。

1.誘電緩和スペクトロスコピー法の原理
 1.1 誘電余効現象 
  1.1.1 重ね合わせの原理、誘電損失 
 1.2 均質誘電体の誘電緩和現象 
 1.3 Debye緩和 
 1.4 緩和時間分布 
 1.5 誘電緩和現象の起源 
  1.5.1 不均質誘電体の緩和現象
  1.5.2 微粒子分散系の誘電損失  
  1.5.3 双極子の配向分極 

2.複素誘電率の測定方法 

3.高分子物質のダイナミクス測定例

 3.1 高分子ガラス転移ダイナミクス
  3.1.1 PVAcの誘電緩和
 3.2 高分子結晶化過程での誘電測定
  3.2.1 高分子の構造、球晶形成など
 3.3 高分子超薄膜での誘電測定
  3.3.1 高分子薄膜のガラス転移
  3.3.2 ガラス転移温度の膜厚依存性

4.高分子ガラスのエイジング現象の観測

5.誘電測定を用いた体積変化の測定
 5.1 Capacitive Dilatometry 法
 5.2 熱膨張率スペクトロスコピー法

6.まとめ

  □質疑応答・名刺交換□
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