セミナー番号：B080826(電子部品試験)

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★信頼性評価の考え方から学びます！　故障データや加速試験データの解析方法とは？

★電子デバイスの選定・調達、電子部品の故障寿命予測に役立つ！

電子部品の信頼性評価・試験の考え方と寿命予測法

■パソコンを使って事例を用いた数値解析演習付き(※１)　　■演習解説もＣＤ配布

講師        ： (株)松下電工解析センター EMC・基板解析事業部 基板設計・解析グループ 主幹　本山 晃　氏 【専門】 　電子部品の信頼性評価、寿命予測 【活動】 　日本信頼性学会 故障物性研究会（関東）、信頼性試験研究会（関西） 【受賞】 　フィルムコンデンサの信頼性評価に関する一検討で日本信頼性学会から論文奨励賞 受賞 日時        ： 【1日目】2008年8月27日(水) 13:00〜16:30 【2日目】2008年8月28日(木) 10:30〜16:30 会場        ： 東京・江東区有明 東京ビッグサイト会議棟 7F 701会議室 ≪会場地図はこちら≫ 受講料     ： (税込) 57,750円 　⇒E-mail案内登録会員 54,800円 　　※資料・昼食(2日目のみ)付 上記価格より：＜2名で参加の場合1名につき7,350円割引＞＜3名で参加の場合1名につき10,500円割引＞（同一法人に限ります） (※1)Excelを使って数値解析演習をします。“2日目に”Excel入りのノートＰＣをご持参ください。

講演内容  ： ＜趣旨＞ 　電子機器の小型・軽量化に伴い、それに搭載される電子部品も小型化・薄膜化が進んでいる一方、コストダウン狙いで海外の部品の使用も増えてきています。このような状況では、電子機器に使用する電子部品の信頼性を見極めることが重要となっています。 　そこで本講では、信頼性の基礎知識から電子部品の故障寿命の予測方法まで受動部品を中心に事例を交えて解説していきます。 　また、本講座で解説する寿命予測事例や演習問題の解説などがEXCEL形式にてCDで配布します。 １．部品を調達する時の課題 　1.1 部品選定ミスによる市場トラブルの現状 　2.2 信頼性の高い部品を調達する為の考え方 ２．部品調達時に知っておくべき用語と試験法 　2.1 信頼性用語の定義 　2.2 信頼性特性値の考え方 　2.3 信頼性試験の体系 　2.4 信頼性試験の目的 ３．評価する際に用いる信頼性理論 　3.1 アレニウスモデル 　3.2 アイリングモデル 　3.3 コフィン・マンソンモデル 　3.4 寿命試験の留意点 ４．市場故障データや加速試験データの解析方法 　4.1 市場故障データの解析 　4.2 仕様変更品の為のデータ解析 　4.3 加速試験データの解析 　4.4 事例を用いた数値解析演習 ５．電子部品の寿命予測の実際 　5.1 寿命に及ぼすストレス要因 　5.2 電子部品とストレスの対応 　5.3 部品の劣化現象と劣化の加速式 　5.4 加速試験による寿命の見極め方 　5.5 事例を用いた寿命予測演習 ６．市場トラブルの実例 　6.1 ＡＬ電解コンデンサ 　6.2 フィルムコンデンサ 　　□質疑応答・名刺交換□

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